特許
J-GLOBAL ID：200903077290866055

複数の方位線からの物体の位置特定の方法及び装置

発明者：
シャイノウスキ、ウィースロー・ジャージー

シャイノウスキ、ウィースロー・ジャージー について


出願人/特許権者：
ミツビシ・エレクトリック・アールアンドディー・センター・ヨーロッパ・ビーヴィ

ミツビシ・エレクトリック・アールアンドディー・センター・ヨーロッパ・ビーヴィ について


代理人 (5件)： 曾我 道治 ,  古川 秀利 ,  鈴木 憲七 ,  梶並 順 ,  田口 雅啓
公報種別：公表公報
出願番号（国際出願番号）：特願2009-502201
公開番号（公開出願番号）：特表2009-531697
出願日： 2007年03月27日
公開日（公表日）： 2009年09月03日
要約：
物体の場所を求める方法は、複数の観測場所からの物体の方位を表すデータを使用する。この方法は、(a)方位毎に、手順を使用して点の座標を導出することであって、この座標は、所定の場所とその方位線上の最も近い点との間の符号付き距離を表す第1の値pと、その方位線の角度を表す第2の値θとを含み、上記手順に従って、反対方向の同一直線上の方位が、互いに符号が反対である第1の値と、互いにπだけ異なる第2の値とを有する、導出すること、及び、(b)上記点を曲線フィッティングすることを規定するパラメータを導出することであって、当該パラメータは物体の場所を表す、導出することを含む。方位測定に関連付けられる信号対雑音比を表す値と、互いに対して相対的な観測場所を表す値及び物体に対して相対的な観測場所を表す値とを使用して、物体の場所の計算に対するそれらの影響を重み付けする目的で方位をグループ化することができる。
請求項（抜粋）：
複数の既知の観測場所からの物体の方位線のセットを表すデータを使用して前記物体の場所を求める方法であって、 前記方位線毎に、マッピング手順を使用して該方位線を表す点の座標を導出することであって、該座標は、基準場所から前記方位線上の最も近い点までの距離を表す第1の座標と、基準方向に対する前記方位線の角度を表す第2の座標とを含み、前記マッピング手順によって前記方位線の方向を示す、導出すること、及び 前記点に実質的にフィッティングする余弦曲線を規定するパラメータを導出することであって、該パラメータは前記物体の場所を表す、導出すること、 を含む、方法。
IPC (4件)：
G01S 5/20 ,  G01S 3/802 ,  G01S 5/16 ,  G01S 5/04
FI (4件)：
G01S5/20 ,  G01S3/802 ,  G01S5/16 ,  G01S5/04
Fターム (16件)：
5J062AA09 ,  5J062BB01 ,  5J062BB02 ,  5J062BB05 ,  5J062CC14 ,  5J062HH05 ,  5J083AA05 ,  5J083AB15 ,  5J083AD02 ,  5J083AD18 ,  5J083AE01 ,  5J083AE02 ,  5J083AE08 ,  5J083AF01 ,  5J083AG05 ,  5J083CA11
引用特許：
審査官引用 (4件)
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