特許
J-GLOBAL ID:200903077298332700
p形III族窒化物半導体層及びその形成方法
発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件):
矢口 平
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平9-155313
公開番号(公開出願番号):特開平11-004018
出願日: 1997年06月12日
公開日(公表日): 1999年01月06日
要約:
【要約】【目的】 as-grownで低抵抗でp形のIII 族窒化物半導体層を形成する。【解決手段】 層厚を50nm以下とするIII 族窒化物半導体層を重層させて形成し、ドーピングレベルの高いエピタキシャル成長層を利用する。
請求項(抜粋):
III 族窒化物半導体結晶の表面上に形成したp形不純物をドープしたIII 族窒化物半導体層であって、層厚を50nm以下とする複数の層の積層構造体からなることを特徴とするp形III 族窒化物半導体層。
IPC (2件):
FI (2件):
H01L 33/00 C
, H01L 21/205
引用特許:
審査官引用 (2件)
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窒化物半導体素子
公報種別:公開公報
出願番号:特願平9-364012
出願人:日亜化学工業株式会社
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半導体光素子
公報種別:公開公報
出願番号:特願平8-142590
出願人:株式会社日立製作所
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