特許
J-GLOBAL ID：200903077461824372
四端子測定用接触子構造
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
熊谷 浩明
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平7-129196
公開番号（公開出願番号）：特開平8-304486
出願日： 1995年04月28日
公開日（公表日）： 1996年11月22日
要約：
【要約】【目的】 実装部品が基板側に正しく接続されているか否かを四端子測定用接触子を用いて検査する際の検査作業を迅速に行えるようにする。【構成】 装置本体に上下左右方向に移動自在に配設される治具部11と、水平バネ部23を介して分岐された上側垂直部22と下側垂直部24とを有してなる絶縁被膜21aを備える偶数本の線状接触子21とで構成され、水平バネ部23を同一方向に整列させて配置される線状接触子21のそれぞれは、被検査基板51上の実装部品52が備えるリード53自体の横幅aの範囲内で隣り合う各2本を一組とし、前記各リード53相互の間隔bに対応する間隔を介在させて配置される各組の線状接触子21をそれぞれの上側垂直部22を介して治具部11に固定させ、下側垂直部24を治具部11の対応部位に設けらた各ガイド孔17内に各別に挿入し、それぞれの下端部24aを被測定ポイントP1 ,P2 との導通を自在にして突出させた。
請求項（抜粋）：
基板検査装置本体に上下左右方向への移動を自在に配設される治具部と、水平バネ部を介して分岐された上側垂直部と下側垂直部とを有してなる絶縁被膜を備える偶数本の線状接触子とで構成され、前記水平バネ部を同一方向に整列させて配置される前記線状接触子のそれぞれは、被検査基板上の実装部品が備えるリード自体の横幅に納まる範囲内で離間するように隣り合わせた各2本を一組とし、実装部品の前記各リード相互の間隔に対応する間隔を介在させて配置される各組の線状接触子をそれぞれの上側垂直部を介して前記治具部の側に固定させ、前記下側垂直部の側を治具部の対応部位に設けられている各ガイド孔内に各別に挿入し、それぞれの下端部を被測定ポイントとの導通を自在にして突出させたことを特徴とする四端子測定用接触子構造。
IPC (2件)：
FI (2件)：
G01R 27/02 Z
, G01R 1/073 A
