特許
J-GLOBAL ID:200903077572823642

集積回路の認証

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (2件): 恩田 博宣 ,  恩田 誠
公報種別:公表公報
出願番号(国際出願番号):特願2003-586918
公開番号(公開出願番号):特表2005-523481
出願日: 2003年04月14日
公開日(公表日): 2005年08月04日
要約:
デバイスのグループは、共通の設計に基づいて製造され、各デバイスは、グループ内でそのデバイスに対して一意なものである対応する複数の測定可能な特性を有し、各デバイスは、測定可能な特性を測定するための測定モジュールを有する。デバイスのグループのうちの1つのデバイスの認証は、デバイスの複数の測定可能な特性のうちの1つ以上を選択的に測定することにより、可能となる。
請求項(抜粋):
方法であって 共通の設計に基づいて製造されたデバイスのグループから第1のデバイスを提供することであって、各デバイスが、前記グループ内でデバイスに対して一意なものである対応する複数の測定可能な特性を有し、各デバイスが、前記測定可能な特性を測定するための測定モジュールを有する、前記第1のデバイスを提供すること、 前記デバイスの前記複数の測定可能な特性のうちの1つ以上を選択的に測定することにより、前記第1のデバイスの認証を可能にすることを備える方法。
IPC (2件):
G09C1/00 ,  H04L9/32
FI (2件):
G09C1/00 640E ,  H04L9/00 675A
Fターム (6件):
5J104AA07 ,  5J104KA02 ,  5J104KA04 ,  5J104KA15 ,  5J104NA05 ,  5J104NA38
引用特許:
出願人引用 (3件) 審査官引用 (3件)
引用文献:
出願人引用 (5件)
  • “Controlled Physical Random Functions”
  • “Silicon Physical Random Functions”
  • “Delay-Based Circuit Authentication and Applications”
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審査官引用 (5件)
  • “Controlled Physical Random Functions”
  • “Silicon Physical Random Functions”
  • “Delay-Based Circuit Authentication and Applications”
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