特許
J-GLOBAL ID：200903078077594145
座標変換係数取得方法、座標変換係数取得装置およびコンピュータプログラム
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
特許業務法人プロスペック特許事務所
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2004-170932
公開番号（公開出願番号）：特開2005-352630
出願日： 2004年06月09日
公開日（公表日）： 2005年12月22日
要約：
【課題】複数の異なる視点における各座標系に基づく立体形状データ群を合成するための座標変換係数を作業効率よく得る。【解決手段】直方体の各面がそれぞれ異なる反射率で形成された基準物体40を用意するとともに、同基準物体40の各面を識別するための反射光量データと、同基準物体40の3つの基準面を表す情報を反射光量データに対応させて記憶装置に予め記憶する。次に、複数の異なる位置に配置した3次元形状測定装置20A,20B,20Cによって、同基準物体40を測定するとともに、同測定情報から反射光量データおよび3つの基準面を表す情報を用いて、各座標系A,B,Cごとの基準物体40の3つの基準面における法線ベクトルおよび同3つの基準面により形成される頂点座標を計算する。そして、各座標A,B,Cごとの3つの法線ベクトルおよび1つの頂点座標を用いて座標変換係数を計算する。【選択図】 図1
請求項（抜粋）：
1つまたは複数の3次元形状測定装置により測定対象物の3次元表面形状を同測定対象物に対して相対的に異なる複数の視点で測定し、複数の視点ごとの座標系に基づく3次元形状データを基準座標系に基づく3次元形状データに変換する際に使用される座標変換係数の取得方法において、
1つの3次元形状測定装置によって同時に測定可能かつ識別可能な少なくとも3つの面を有する多面体を基準物体として用意し、
前記1つの3次元形状測定装置によって同時に測定可能かつ識別可能な少なくとも3つの面をそれぞれ識別するための識別パラメータを記憶手段に予め記憶しておくとともに、前記基準物体の複数の面のうちから選択された少なくとも3つの基準面を表す基準面データを前記記憶手段に予め記憶しておき、
前記1つまたは複数の3次元形状測定装置の測定対象空間内に前記基準物体を配置した状態で、前記1つまたは複数の3次元形状測定装置に、基準物体の3次元表面形状を基準物体に対して相対的に異なる複数の視点で測定させ、同基準物体の3次元表面形状を表す複数組の立体形状データ群をそれぞれ生成する立体形状データ群生成ステップと、
前記生成した各立体形状データ群ごとに、各立体形状データ群から前記識別パラメータを用いて基準物体の少なくとも3つの面をそれぞれ抽出する抽出ステップと、
前記抽出された基準物体の少なくとも3つの面に関する立体形状データ群と前記基準面データとを用い、前記複数の異なる視点ごとに、同一の3つの面および同一の1つの頂点をそれぞれ規定する複数の変換基準規定パラメータを各視点ごとの座標系においてそれぞれ計算する変換基準規定パラメータ計算ステップと、
前記計算された複数の異なる視点ごとにおける複数の変換基準規定パラメータにより、各視点ごとの座標系に基づく座標値を基準座標系に基づく座標値に変換するための座標変換係数を計算するステップと
を含むことを特徴とする座標変換係数取得方法。
IPC (1件)：
FI (1件)：
Fターム (12件)：
5B057AA20
, 5B057BA02
, 5B057BA29
, 5B057DA20
, 5B057DB03
, 5B057DB05
, 5B057DB06
, 5B057DB09
, 5B057DC07
, 5B057DC09
, 5B057DC25
, 5B057DC30
