特許
J-GLOBAL ID：200903078243845658

三次元形状測定システム及び三次元形状測定方法

発明者：
福本 忠士

福本 忠士 について

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大崎 繁

大崎 繁 について

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有泉 昌弘

有泉 昌弘 について

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松長 紀雄

松長 紀雄 について

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阿部 芳久

阿部 芳久 について


出願人/特許権者：
ミノルタ株式会社

ミノルタ株式会社 について


代理人 (1件)： 吉田 茂明 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-132307
公開番号（公開出願番号）：特開2002-328014
出願日： 2001年04月27日
公開日（公表日）： 2002年11月15日
要約：
【要約】【課題】 複数の方向から測定対象物を測定する場合に、測定対象物の測定から三次元形状データが求められるまでの時間を短縮し、効率的な測定動作を実現すること。【解決手段】 三次元測定器10,20で測定対象物を測定するのに先立って、各三次元測定器10,20で校正用対象物を測定する。各三次元測定器10,20から得られる校正用対象物に関する測定データをデータ処理装置50が入力し、三次元測定器10,20のそれぞれについて得られる校正用対象物に関する測定データをワールド座標系の三次元形状データに変換するための変換パラメータを予め求め、それを記憶部53に保存しておく。測定対象物の測定の時には、各三次元測定器10,20から得られる測定データを、記憶部53に保存される変換パラメータに基づいて変換することにより、三次元形状データを生成する。
請求項（抜粋）：
測定空間に設置される測定対象物に対して投光手段からレーザ光を照射し、前記投光手段からのレーザ光が前記測定対象物で反射する反射光を受光手段で検出することにより、前記測定対象物の三次元形状を測定する装置において前記測定対象物を複数の方向から測定し、各方向から測定して得られる測定データに基づいて前記測定対象物の三次元形状データを生成する三次元形状測定システムであって、前記測定対象物の測定に先立って前記測定空間に設置される校正用対象物を前記複数の方向から測定するように前記測定装置を制御する制御手段と、前記複数の方向のそれぞれについて得られる前記校正用対象物に関する測定データをワールド座標系の三次元形状データに変換するための変換パラメータを求めるデータ処理手段と、前記変換パラメータを記憶する記憶手段と、を備え、前記測定対象物の測定の時に、前記複数の方向のそれぞれについて得られる前記測定対象物に関する測定データを、前記変換パラメータを用いてデータ変換を行うことにより、前記三次元形状データを生成することを特徴とする三次元形状測定システム。
IPC (4件)：
G01B 11/24 ,  G06T 1/00 315 ,  G06T 7/00 ,  G06T 7/60 150
FI (4件)：
G06T 1/00 315 ,  G06T 7/00 C ,  G06T 7/60 150 S ,  G01B 11/24 A
Fターム (35件)：
2F065AA06 ,  2F065AA53 ,  2F065BB05 ,  2F065DD03 ,  2F065FF01 ,  2F065FF09 ,  2F065GG04 ,  2F065GG22 ,  2F065HH05 ,  2F065HH12 ,  2F065JJ03 ,  2F065JJ26 ,  2F065LL62 ,  2F065PP13 ,  2F065PP22 ,  2F065QQ18 ,  2F065QQ31 ,  2F065RR05 ,  5B057BA02 ,  5B057CA12 ,  5B057CB13 ,  5B057CH01 ,  5B057CH11 ,  5B057CH14 ,  5B057DA13 ,  5B057DA17 ,  5B057DB02 ,  5L096AA09 ,  5L096CA14 ,  5L096CA17 ,  5L096DA02 ,  5L096FA12 ,  5L096FA64 ,  5L096HA01 ,  5L096MA00
引用特許：
出願人引用 (5件)
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審査官引用 (7件)
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