基板検査装置

発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：長門侃二
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2000-041570
公開番号（公開出願番号）：特開2001-228209
出願日： 2000年02月18日
公開日（公表日）： 2001年08月24日
要約：

【要約】【課題】コンタクトピンを用いた検査(インサーキットテストやファンクションテスト)と通信ケーブルを用いた検査(通信テスト)とを同時に実行することの可能な簡易な構成の基板検査装置を提供する。【解決手段】インサーキットテスト機能11と、ファンクションテスト機能12と、通信テスト機能13とを一体に備え、これらの各テスト機能の動作とその動作手順を、前記回路基板に対して設定したテストプログラムに従って一括管理して制御する制御手段14とを備える。そしてインサーキットテスト機能およびファンクションテスト機能の動作をそれぞれ指定するコマンドを用いて記述されるテストプログラム中に、通信テスト機能における通信プロトコルを指定するコマンドを記述することで、前記各テスト機能の作動をそれぞれ制御する。

請求項（抜粋）：

所定の回路機能素子を実装した回路基板の良否を検査する基板検査装置であって、前記回路基板の予め特定された部位に接触させたコンタクトピンを介して該回路基板における配線の良否および該回路基板に実装された回路機能素子の機能を検査するインサーキットテスト機能と、前記コンタクトピンを介して前記回路基板に実装された回路機能素子により構築される電子回路機能を検査するファンクションテスト機能と、前記回路基板に接続された通信ケーブルを介して前記電子回路機能の動作を制御すると共に、その動作制御時における該電子回路機能を検査する通信テスト機能と、これらの各テスト機能の動作とその動作手順を、前記回路基板に対して設定したテストプログラムに従って一括管理して制御する制御手段とを備えることを特徴とする基板検査装置。

Fターム (7件)：

2G032AA00 , 2G032AB01 , 2G032AE07 , 2G032AE10 , 2G032AE12 , 2G032AE17 , 2G032AL00

引用特許：

審査官引用 (5件)

特開平1-169379
特開平4-273081
回路基板検査装置
公報種別：公開公報出願番号：特願平3-185842 出願人：グラフテツク株式会社

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