特許
J-GLOBAL ID：200903078373957563
X線装置
出願人/特許権者：
理学電機株式会社
理学電機株式会社 について
代理人 (1件)： 横川 邦明
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平10-128187
公開番号（公開出願番号）：特開平11-304731
出願日： 1998年04月22日
公開日（公表日）： 1999年11月05日
要約：
【要約】【課題】 多種類のX線測定の中から希望するX線測定を自由に選択して実行することができ、測定中の試料の脱落を確実に防止でき、さらに、環境アタッチメントの設置を容易に行うことのできるX線装置を提供する。【解決手段】 X線を発生するX線源Fと、試料Sの表面を通るω軸線を中心としてその試料Sを回転させるθ回転台9と、試料Sで回折するX線R2を検出するX線カウンタ2と、X線カウンタ2を支持する2θ’アタッチメント15と、2θ’アタッチメント15をω軸線を中心として回転させる2θ回転台11とを有するX線装置である。2θ’アタッチメント15は、ω軸線と直交する2θ’軸線を中心としてX線カウンタ2を回転させる。θ回転台9、2θ回転台11及び2θ’アタッチメント15の各動作を適宜に選択して実行することにより、各種のX線測定を選択的に実行できる。
請求項（抜粋）：
X線を発生するX線源と、試料の表面を通るω軸線を中心としてその試料を回転させるθ回転台と、試料で回折するX線を検出するX線検出手段と、そのX線検出手段を支持する2θ’アタッチメントと、その2θ’アタッチメントを前記ω軸線を中心として回転させる2θ回転台とを有し、前記2θ’アタッチメントは、ω軸線と直交する2θ’軸線を中心として前記X線検出手段を回転させることを特徴とするX線装置。
IPC (2件)：
FI (2件)：
引用特許：
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