特許

J-GLOBAL ID：200903078588016980

分布的物理量測定方法

発明者： 田崎 修
出願人/特許権者： 日立電線株式会社
代理人 (1件)： 絹谷 信雄
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平10-356134
公開番号（公開出願番号）：特開2000-180303
出願日： 1998年12月15日
公開日（公表日）： 2000年06月30日
要約：

【要約】【課題】 偽応答を減少させる分布的物理量測定方法を提供する。【解決手段】 擬似ランダム変調信号を測定対象9に送出し、その測定対象9からの応答信号を復調することによって分布的物理量を測定する方法において、前記測定対象9の前記変調信号を入力する側とは反対側の端部に、前記変調信号の反射を減衰させる反射減衰手段10を設けた。

請求項（抜粋）：

擬似ランダム変調信号を測定対象に送出し、その測定対象からの応答信号を復調することによって分布的物理量を測定する方法において、前記測定対象の前記変調信号を入力する側とは反対側の端部に、前記変調信号の反射を減衰させる反射減衰手段を設けたことを特徴とする分布的物理量測定方法。

IPC (7件)：

G01M 11/02 ,  G01J 3/44 ,  G01J 5/08 ,  G01J 5/10 ,  G01K 11/12 ,  G01M 11/00 ,  G01N 21/65

FI (7件)：

G01M 11/02 J ,  G01J 3/44 ,  G01J 5/08 A ,  G01J 5/10 C ,  G01K 11/12 F ,  G01M 11/00 U ,  G01N 21/65

Fターム (27件)：

2F056VF02 ,  2F056VF11 ,  2F056VF16 ,  2G020AA03 ,  2G020BA20 ,  2G020CA04 ,  2G020CB23 ,  2G020CB42 ,  2G043AA06 ,  2G043EA03 ,  2G043HA05 ,  2G043HA15 ,  2G043KA01 ,  2G043KA08 ,  2G043KA09 ,  2G043LA01 ,  2G043MA01 ,  2G043MA16 ,  2G043NA16 ,  2G066AA11 ,  2G066BA18 ,  2G066BB02 ,  2G066BB20 ,  2G066BC30 ,  2G066CA01 ,  2G066CA11 ,  2G086DD04

引用特許：

審査官引用 (2件)

• 光ファイバー温度分布測定方法
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平6-289332   出願人：日本鋼管株式会社
• 測定装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平8-046861   出願人：株式会社東芝