特許
J-GLOBAL ID:200903078675067982
薄膜トランジスタおよびアクティブマトリクス基板
発明者:
,
,
出願人/特許権者:
代理人 (3件):
山本 秀策
, 安村 高明
, 大塩 竹志
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2002-209595
公開番号(公開出願番号):特開2004-055735
出願日: 2002年07月18日
公開日(公表日): 2004年02月19日
要約:
【課題】薄膜トランジスタの良好な特性を安定的に得ること。【解決手段】本発明の薄膜トランジスタ(135)は、第1のオーミックコンタクト層(139A)と、第1のオーミックコンタクト層(139A)とは適当な間隔をあけて分離されて設けられた第2のオーミックコンタクト層(139B)と、少なくとも一部が、第1のオーミックコンタクト層(139A)上に設けられたソース電極(138)と、少なくとも一部が、第2のオーミックコンタクト層(139B)上に設けられたドレイン電極(137)と、第1のオーミックコンタクト層(139A)、第2のオーミックコンタクト層(139B)、ソース電極(138)およびドレイン電極(137)上に設けられた半導体層(140)とを備える。【選択図】 図1B
請求項(抜粋):
基板と、
前記基板上に設けられた第1のオーミックコンタクト層と、
前記基板上に、前記第1のオーミックコンタクト層とは適当な間隔をあけて設けられた第2のオーミックコンタクト層と、
少なくとも一部が、前記第1のオーミックコンタクト層上に設けられたソース電極と、
少なくとも一部が、前記第2のオーミックコンタクト層上に設けられたドレイン電極と、
前記第1のオーミックコンタクト層と、前記第2のオーミックコンタクト層と、前記ソース電極と、前記ドレイン電極とに接するように、前記第1のオーミックコンタクト層、前記第2のオーミックコンタクト層、前記ソース電極および前記ドレイン電極上に設けられた半導体層と、
前記半導体層上に設けられたゲート絶縁膜と、
前記ゲート絶縁膜上に設けられたゲート電極と
を備える、薄膜トランジスタ。
IPC (4件):
H01L29/786
, G02F1/1333
, G02F1/1343
, G02F1/1368
FI (6件):
H01L29/78 616T
, G02F1/1333 500
, G02F1/1343
, G02F1/1368
, H01L29/78 616U
, H01L29/78 626C
Fターム (45件):
2H090JB03
, 2H090JC07
, 2H090JD17
, 2H090LA01
, 2H092GA25
, 2H092GA27
, 2H092HA06
, 2H092JA24
, 2H092JA28
, 2H092JA47
, 2H092JB21
, 2H092KA05
, 2H092KA24
, 2H092NA11
, 2H092NA24
, 2H092PA01
, 5F110AA16
, 5F110AA30
, 5F110BB01
, 5F110CC05
, 5F110DD02
, 5F110DD14
, 5F110EE03
, 5F110EE04
, 5F110EE14
, 5F110FF03
, 5F110GG02
, 5F110GG15
, 5F110GG25
, 5F110GG35
, 5F110GG44
, 5F110HK03
, 5F110HK04
, 5F110HK09
, 5F110HK16
, 5F110HK22
, 5F110HK33
, 5F110HK34
, 5F110HL03
, 5F110HM02
, 5F110NN03
, 5F110NN24
, 5F110NN27
, 5F110NN72
, 5F110QQ04
引用特許:
出願人引用 (6件)
-
特開昭63-190385
-
特開昭59-232385
-
薄膜半導体装置及びその製造方法
公報種別:公開公報
出願番号:特願平6-023974
出願人:株式会社日立製作所
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審査官引用 (9件)
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特開昭63-190385
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薄膜トランジスタ及びその作製方法
公報種別:公開公報
出願番号:特願平3-174541
出願人:株式会社半導体エネルギー研究所
-
特開昭59-232385
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