特許

J-GLOBAL ID：200903078744425624

プレート及び前記プレートを用いた検査方法

発明者： 山下 龍麿 ,  高村 章三 ,  澁谷 嘉久
出願人/特許権者： アルプス電気株式会社
代理人 (2件)： 野▲崎▼ 照夫 ,  三輪 正義
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2004-264892
公開番号（公開出願番号）：特開2006-078413
出願日： 2004年09月13日
公開日（公表日）： 2006年03月23日
要約：

【課題】 流路内に充填された検査用微粒子に対し、より精度良く検査を行なうことが可能なプレート及び前記プレートを用いた検査方法を提供することを目的としている。【解決手段】 流路14は上流側(図示Y1側)から下流側(図示Y2側)にかけて所定幅を有したジグザグ形状で形成されている。これにより、前記流路14の両側面14a,14bが、前記流路14を上流側から下流側にかけて複数の領域22,23に区分し、前記領域22,23内に充填される検査用微粒子30の個数を規制する規制面20,21として機能する。そして、個々の領域22,23ごとに検査を行なうことにより、個々の領域22,23での前記検査用微粒子30の公差の累積量は小さいから、高精度に検査用微粒子30に対する検査を行なうことが可能になる。【選択図】図2

請求項（抜粋）：

凹形状の流路と、前記流路を上流側から下流側にかけて複数の領域に区分し、前記領域内に充填される検査用微粒子の個数を規制するための規制部と、を有することを特徴とするプレート。

IPC (4件)：

G01N 33/543 ,  C12M 1/00 ,  C12Q 1/68 ,  C12N 15/09

FI (4件)：

G01N33/543 531 ,  C12M1/00 A ,  C12Q1/68 A ,  C12N15/00 F

Fターム (17件)：

4B024AA11 ,  4B024CA01 ,  4B024CA09 ,  4B024HA12 ,  4B029AA08 ,  4B029AA21 ,  4B029AA23 ,  4B029CC03 ,  4B029CC13 ,  4B029GB06 ,  4B063QA18 ,  4B063QQ42 ,  4B063QQ52 ,  4B063QR56 ,  4B063QS34 ,  4B063QS39 ,  4B063QX02

引用特許：

出願人引用 (1件)

• 微粒子を用いたプローブアレーの作製方法及び装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2000-109503   出願人：株式会社日立製作所, 日立化成工業株式会社

審査官引用 (1件)

• 検体測定装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平4-199168   出願人：キヤノン株式会社