特許
J-GLOBAL ID:200903079286574018
光FMCW後方散乱測定システムの校正
発明者:
,
出願人/特許権者:
代理人 (2件):
恩田 博宣
, 恩田 誠
公報種別:公表公報
出願番号(国際出願番号):特願2007-530711
公開番号(公開出願番号):特表2008-512663
出願日: 2005年09月07日
公開日(公表日): 2008年04月24日
要約:
測定精度を向上させる光FMCW後方散乱測定システムを校正する方法を提供する。本方法は、A.受信センサ信号を、振幅部分及び位相角部分によって表現される前記変調周波数fmの関数としての複素受信電気信号に変換するステップと、B.前記受信電気信号の変換を行なって、前記センサの前記第1端と前記第2端との間の位置、及び前記第2端よりも先の位置の関数としての後方散乱信号を供給するステップと、C.前記位置の関数としての前記後方散乱信号に基づいて、前記第2端よりも先の前記後方散乱信号を表わす曲線の特性を求めるステップと、D.前記曲線において所定の依存性を示す前記受信電気信号の前記振幅部分、及び前記受信電気信号の前記位相角部分を補正するステップと、E.ステップBを補正済み受信電気信号に基づいて繰り返すステップと、を含む。
請求項(抜粋):
光FMCW後方散乱測定システムを校正する方法であって、該システムは、第1端及び第2端を有する伸長センサと、周波数変調光信号を変調周波数fmで励起し、前記センサの第1端から受信するセンサ信号を分析するように構成された励起兼分析部とを備え、前記センサは、データ信号を前記周波数変調光信号に基づいて捕捉するように構成され、前記周波数変調光信号から、前記第1端と前記第2端との間のセンサ長に沿ったセンサの空間分布測定ポイントの物理パラメータを抽出することができ、当該方法は、
A.前記受信したセンサ信号を、振幅部分及び位相角部分によって表現される前記変調周波数fmの関数としての複素受信電気信号に変換するステップと、
B.前記受信電気信号の変換を行なって、前記センサの第1端と第2端との間の位置、及び前記第2端よりも先の位置の関数としての後方散乱信号を供給するステップと、
C.前記位置の関数としての前記後方散乱信号に基づいて、前記第2端よりも先の前記後方散乱信号を表わす曲線の特性を求めるステップと、
D.前記曲線において所定の依存性を示す前記受信電気信号の前記振幅部分、及び前記受信電気信号の前記位相角部分を補正するステップと、
E.前記ステップBを補正済み受信電気信号に基づいて繰り返すステップと、
を備える、方法。
IPC (3件):
G01M 11/00
, G01K 11/12
, G01K 15/00
FI (3件):
G01M11/00 R
, G01K11/12 F
, G01K15/00
Fターム (6件):
2F056VF02
, 2F056VF11
, 2F056VF16
, 2F056XA07
, 2G086CC03
, 2G086CC07
引用特許:
審査官引用 (2件)
-
光反射測定方法
公報種別:公開公報
出願番号:特願平7-144408
出願人:日本電信電話株式会社
-
OFDR方式の歪連続分布計測装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願2003-387041
出願人:独立行政法人宇宙航空研究開発機構, 有限会社データサイエンス
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