特許
J-GLOBAL ID：200903079338950471

撮像装置

発明者：
竹田 伸弘

竹田 伸弘 について


出願人/特許権者：
キヤノン株式会社

キヤノン株式会社 について


代理人 (1件)： 西山 恵三 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2002-108232
公開番号（公開出願番号）：特開2003-304548
出願日： 2002年04月10日
公開日（公表日）： 2003年10月24日
要約：
【要約】【課題】 良好な画像を得ることを課題とする。【解決手段】 半導体の深さ方向に少なくとも第1、第2の光電変換部を有する画素を複数配列した撮像領域と、前記撮像領域を遮光した状態で前記第1の光電変換部で得られる信号と、前記撮像領域で被写体像を撮像することにより前記第1の光電変換部で得られる信号との差分処理と、前記撮像領域を遮光した状態で前記第2の光電変換部で得られる信号と、前記撮像領域で被写体像を撮像し、前記第2の光電変換部で得られる信号との差分処理とを行う第1の補正手段とを有することを特徴とする撮像装置を提供する。
請求項（抜粋）：
半導体の深さ方向に少なくとも第1、第2の光電変換部を有する画素を複数配列した撮像領域と、前記撮像領域を遮光した状態で前記第1の光電変換部で得られる信号と、前記撮像領域で被写体像を撮像することにより前記第1の光電変換部で得られる信号との差分処理と、前記撮像領域を遮光した状態で前記第2の光電変換部で得られる信号と、前記撮像領域で被写体像を撮像し、前記第2の光電変換部で得られる信号との差分処理とを行う第1の補正手段と、を有することを特徴とする撮像装置。
IPC (5件)：
H04N 9/07 ,  H01L 27/146 ,  H01L 27/148 ,  H01L 31/10 ,  H04N 5/335
FI (7件)：
H04N 9/07 A ,  H04N 5/335 P ,  H04N 5/335 U ,  H01L 27/14 A ,  H01L 27/14 B ,  H01L 31/10 G ,  H01L 31/10 A
Fターム (36件)：
4M118AA05 ,  4M118AA07 ,  4M118AB01 ,  4M118BA10 ,  4M118BA14 ,  4M118CA03 ,  4M118CA18 ,  4M118CA22 ,  4M118CA27 ,  4M118FA06 ,  4M118GB09 ,  5C024BX01 ,  5C024CX23 ,  5C024CX32 ,  5C024GX03 ,  5C024GY01 ,  5C024GY31 ,  5C024HX14 ,  5C024HX29 ,  5C024HX50 ,  5C024HX58 ,  5C065AA03 ,  5C065BB18 ,  5C065BB23 ,  5C065CC01 ,  5C065DD01 ,  5C065GG13 ,  5C065GG22 ,  5C065GG30 ,  5C065GG32 ,  5F049MA02 ,  5F049NA04 ,  5F049NB05 ,  5F049QA07 ,  5F049UA20 ,  5F049WA09
引用特許：
出願人引用 (11件)
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審査官引用 (11件)
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