特許
J-GLOBAL ID：200903078424897889
撮像装置
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
鈴江 武彦 (外4名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-356001
公開番号（公開出願番号）：特開2001-177768
出願日： 1999年12月15日
公開日（公表日）： 2001年06月29日
要約：
【要約】【課題】 長時間露光時のような暗出力レベルの大きな画素が大量発生する場合にも画質劣化を最小にとどめた高画質な画像を得ると共に、システムの破綻を生じないようにする。【解決手段】 CCD撮像素子105を用いて被写体像を撮像する撮像装置において、システムコントローラ112に制御の下に、撮像素子105の撮像動作状況における暗出力レベルを検出し、検出した暗出力レベルの値が大きいものから一定数以下の画素を欠陥画素として検出し、撮像素子105による本撮像時において各画素に関してその出力画素信号から暗出力レベルの値を減算し、撮像素子105による本撮像時において検出した欠陥画素に関してはその近傍の画素情報によって補償する。つまり、撮像素子105の画素毎の欠陥レベルを判定し、高レベルのものから補償対象として所定数以上のものは減算補正の対象とする。
請求項（抜粋）：
被写体像を撮像するための撮像素子と、この撮像素子の所定の撮像動作状況における暗出力レベルを検出する暗出力レベル検出手段と、この暗出力レベル検出手段が検出した暗出力レベルの値が大きいものから所定数以下の画素を欠陥画素として検出する欠陥画素検出手段と、前記撮像素子による本撮像時において各画素に関してその出力画素信号から前記暗出力レベルの値を減算する暗出力補正手段と、前記撮像素子による本撮像時において前記欠陥画素検出手段が検出した欠陥画素の情報に関しては当該画素近傍の画素情報によってこれを補償する画素欠陥補償手段と、を備えたことを特徴とする撮像装置。
IPC (2件)：
FI (2件)：
H04N 5/335 P
, H01L 27/14 Z
4M118AA07
, 4M118AB01
, 4M118BA10
, 4M118GB09
, 4M118GC07
, 5C024CX22
, 5C024CX23
, 5C024CX25
, 5C024CX33
, 5C024CY44
, 5C024GY01
, 5C024HX23
, 5C024HX29
, 5C024HX60
, 5C024JX06
