特許
J-GLOBAL ID：200903079389639240
膜厚測定装置
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
山田 恒光 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平6-303754
公開番号（公開出願番号）：特開平8-159744
出願日： 1994年12月07日
公開日（公表日）： 1996年06月21日
要約：
【要約】【目的】 内周面に塗布膜が塗布されている管が溶接等の影響を受けて変形している場合でも、塗布膜の厚さを正確に測定し得るようにする。【構成】 上部ケーシング17a内に径方向へ進退動して塗布膜4に接触しその厚さを測定するセンサ32と、径方向へ進退動して塗布膜4に接触し上部ケーシング17aを管2に対し同心状に支持させる支持アーム56とを収納し、下部ケーシング17b内に、径方向へ進退動して管2内周面に接触し下部ケーシング17bを管2に対して同心状に支持させる支持ピン41,42を収納し、上部ケーシング17aと下部ケーシング17bを自在継手45を介して連結する。
請求項（抜粋）：
自在継手を介して連結した昇降及び旋回自在な上部ケーシングと下部ケーシングとを備え、上部ケーシングには、管内周に塗布された塗布膜に接触して塗布膜の厚さを検出する、ケーシング径方向へ移動可能なセンサと、前記塗布膜内周面或いは管内周面に接触して上部ケーシングを管に対し同心状に支持させる、ケーシング径方向へ移動可能な第1の支持手段を収納し、下部ケーシングには、前記管内周面に接触して下部ケーシングを管に対し同心状に支持させる、ケーシング径方向へ移動可能な第2の支持手段を収納したことを特徴とする膜厚測定装置。
引用特許：
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