特許
J-GLOBAL ID：200903080351000464
イオン分離装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (5件)：
社本 一夫
, 増井 忠弐
, 小林 泰
, 千葉 昭男
, 富田 博行
公報種別：公表公報
出願番号（国際出願番号）：特願2002-512998
公開番号（公開出願番号）：特表2004-504696
出願日： 2001年07月10日
公開日（公表日）： 2004年02月12日
要約：
イオン分離装置(600)は質量分析器(36)に連結されたイオン出口を有する少なくとも第1のイオン移動度検出器(34)に連結イオン源を含む。1つの実施例において、イオン源はイオンをイオン保留時間等の分子特性に従って時間的に分離するように動作可能な分子分離装置(602)を含む。かくしてこの装置は保留時間、イオン移動度及びイオンの質量/電荷の関数として時間的に分離された分子の情報を与えるように動作可能である。他の実施例において、イオン分離装置はイオン源と質量分析器との間にカスケード状に配置された第1及び第2のイオン移動度装置を含み、ここで2つのイオン移動度装置はイオンをそれぞれ異なるイオン移動度の関数に従って時間的に分離するように動作可能である。例えば、2つのイオン移動度装置は異なる飛行管の長さを有し、異なる温度で動作し、異なる電界の存在する状態で動作し、及び/または異なる気体の存在する状態で動作するようにしてもよい。かくしてこの装置はイオン移動度とイオンの質量/電荷との少なくとも2つの異なる関数に従って時間的に分離された分子の情報を与えるように動作可能である。
請求項（抜粋）：
イオン塊を第1の分子特性の関数として時間的に分離することと、
上記第1の分子特性の関数として予め時間的に分離されたイオンの少なくとも一部をイオン移動度の関数として順次時間的に分離することと、
イオン移動度の関数として予め時間的に分離されたイオンの少なくとも一部をイオン質量の関数として順次時間的に分離することと、
の各ステップからなることを特徴とするイオンを時間的に分離する方法。
IPC (4件)：
H01J49/40
, G01N27/62
, H01J49/10
, H01J49/26
H01J49/40
, G01N27/62 E
, G01N27/62 K
, H01J49/10
, H01J49/26
5C038GG07
, 5C038GG08
, 5C038GH02
, 5C038GH05
, 5C038GH11
, 5C038GH13
, 5C038GH15
, 5C038HH02
, 5C038HH16
, 5C038HH26
