特許
J-GLOBAL ID:200903080389355215
シリコン単結晶基板上にアナターゼ型の二酸化チタン単結晶膜を作製する方法
発明者:
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出願人/特許権者:
代理人 (1件):
社本 一夫 (外5名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2000-247611
公開番号(公開出願番号):特開2002-060300
出願日: 2000年08月17日
公開日(公表日): 2002年02月26日
要約:
【要約】【課題】 シリコンを基板として用いることにより大きな面積のアナターゼ型二酸化チタン単結晶膜を得、窒素酸化物等の有害ガスの分解、除去の反応面積の拡大化が図れる。【解決手段】 結晶面方位が(100)面のシリコン単結晶基板上に(100)面の窒化チタン(TiN)を積層し、次に(100)面のチタン酸ストロンチウム(SrTiO3)を積層することにより、シリコンとアナターゼ型二酸化チタンとの格子不整合を減少させるもので、これによりアナターゼ型二酸化チタンの単結晶成長を可能にする。
請求項(抜粋):
シリコン単結晶基板上にアナターゼ型結晶構造の二酸化チタン単結晶膜を形成させるために、レーザアブレーション成膜法により結晶面方位が(100)面のシリコン単結晶基板上に(100)面の窒化チタン(TiN)膜、次に(100)面のチタン酸ストロンチウム(SrTiO3)膜の順番で積層し、(100)面のチタン酸ストロンチウム膜上に(001)面のアナターゼ型の二酸化チタン(TiO2)単結晶膜を作製する方法。
IPC (7件):
C30B 29/16
, B01D 53/86 ZAB
, B01D 53/94
, B01J 21/06
, B01J 35/02
, B01J 37/02 301
, C23C 14/08
FI (7件):
C30B 29/16
, B01J 21/06 M
, B01J 35/02 J
, B01J 37/02 301 M
, C23C 14/08 E
, B01D 53/36 ZAB J
, B01D 53/36 102 C
Fターム (37件):
4D048AA06
, 4D048AB03
, 4D048BA07X
, 4D048BA41X
, 4D048BB03
, 4D048EA01
, 4G069AA03
, 4G069AA08
, 4G069BA04A
, 4G069BA04B
, 4G069BA48A
, 4G069CA10
, 4G069CA13
, 4G069DA06
, 4G069EA08
, 4G069EC22X
, 4G069FA01
, 4G069FA03
, 4G069FB03
, 4G077AA03
, 4G077AB02
, 4G077BB04
, 4G077DA03
, 4G077ED06
, 4G077EF02
, 4G077HA20
, 4K029AA06
, 4K029AA24
, 4K029BA48
, 4K029BA50
, 4K029BA60
, 4K029BB02
, 4K029BB07
, 4K029BC00
, 4K029BC07
, 4K029CA01
, 4K029DB20
引用特許:
引用文献:
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