特許

J-GLOBAL ID：200903080709882960

顕微鏡法および顕微鏡

発明者： 池滝 慶記
出願人/特許権者： オリンパス株式会社
代理人 (3件)： 杉村 興作 ,  藤谷 史朗 ,  来間 清志
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2006-349694
公開番号（公開出願番号）：特開2008-157873
出願日： 2006年12月26日
公開日（公表日）： 2008年07月10日
要約：

【課題】試料の所望の情報を、短時間で、しかも光源の強度を高くすることなく、極めて高いS/Nで顕微鏡観察できる顕微鏡法および顕微鏡を提供する。【解決手段】波長の異なる第1電磁波と第2電磁波とを、少なくとも一部重ねて試料に照射する同時照射ステップと、該同時照射ステップにより、前記第1電磁波および前記第2電磁波が重ねて照射された前記試料の照射領域において、前記第1電磁波の照射により発生する屈折率変化の空間分布を、前記試料を透過した前記第2電磁波の位相差像として可視化する同時照射可視化ステップと、を含むことを特徴とする。【選択図】図6

請求項（抜粋）：

波長の異なる第1電磁波と第2電磁波とを、少なくとも一部重ねて試料に照射する同時照射ステップと、 該同時照射ステップにより、前記第1電磁波および前記第2電磁波が重ねて照射された前記試料の照射領域において、前記第1電磁波の照射により発生する屈折率変化の空間分布を、前記試料を透過した前記第2電磁波の位相差像として可視化する同時照射可視化ステップと、 を含むことを特徴とする顕微鏡法。

IPC (2件)：

G01N 21/64 ,  G02B 21/06

FI (3件)：

G01N21/64 E ,  G02B21/06 ,  G01N21/64 F

Fターム (27件)：

2G043AA01 ,  2G043BA14 ,  2G043BA16 ,  2G043DA01 ,  2G043EA01 ,  2G043EA15 ,  2G043FA01 ,  2G043FA02 ,  2G043FA06 ,  2G043HA01 ,  2G043HA02 ,  2G043HA09 ,  2G043HA11 ,  2G043JA02 ,  2G043KA01 ,  2G043KA02 ,  2G043KA03 ,  2G043KA04 ,  2G043KA05 ,  2G043KA08 ,  2G043KA09 ,  2G043LA03 ,  2H052AC14 ,  2H052AC34 ,  2H052AF14 ,  2H052AF21 ,  2H052AF25

引用特許：

出願人引用 (1件)

• 特許第3020453号
  

審査官引用 (2件)

• 光熱変換測定装置及びその方法
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2003-091456   出願人：株式会社神戸製鋼所
• 物質の測定方法及び該測定方法に用いる測定試薬
  公報種別：再公表公報   出願番号：JP2000004792   出願人：旭化成株式会社

引用文献：

審査官引用 (1件)

• 赤外線工学 -基礎と応用-, 19910320, 第1版第1刷, 第95頁-第99頁