特許
J-GLOBAL ID：200903081050678488

温度分布測定方法及び装置

発明者：
藤懸 洋一

藤懸 洋一 について


出願人/特許権者：
新日本製鐵株式会社

新日本製鐵株式会社 について


代理人 (1件)： 國分 孝悦
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2007-167886
公開番号（公開出願番号）：特開2009-008439
出願日： 2007年06月26日
公開日（公表日）： 2009年01月15日
要約：
【課題】広い温度範囲を有する被測定物の表面の温度分布を、従来よりも高温度分解能かつ高解像度で測定できるようにする。【解決手段】露光時間を可変としたシャッター及び2次元固体撮像素子を有し、被測定物の輝度画像を出力する2次元カメラ1と、2次元カメラ1を制御して複数の露光時間で撮像させて、当該露光時間が紐ついた輝度画像を複数出力させる撮像条件設定部6と、露光時間が紐ついた輝度画像それぞれを階調データとして取り込むA/D変換部9と、露光時間ごとに設定した温度と階調との関係を示す校正曲線のデータを格納した温度変換データ記録部11と、複数の露光時間ごとに得られた階調データについて、前記校正曲線に基づき、各露光時間に対応する有効温度範囲の温度分布を導出して、当該被測定物の表面の温度分布を導出する温度分布演算部12とを備える。【選択図】図1
請求項（抜粋）：
2次元カメラで被測定物の輝度画像を撮像して当該被測定物の表面の温度分布を測定する温度分布測定方法であって、 前記2次元カメラを用いて被測定物を複数の露光時間ごとに撮像し、当該撮像により得られた輝度画像を変換して階調データを得る手順と、 前記複数の露光時間ごとに得られた階調データについて、予め露光時間ごとに設定した温度と階調との関係を示す校正曲線に基づき、各露光時間に対応する有効温度範囲の温度分布を導出する手順と、 前記複数の露光時間に対応する有効温度範囲の温度分布を用いて、当該被測定物の表面の温度分布を導出する手順とを有することを特徴とする温度分布測定方法。
IPC (1件)：
G01J 5/48
FI (1件)：
G01J5/48 D
Fターム (6件)：
2G066BA13 ,  2G066BA14 ,  2G066BC07 ,  2G066BC15 ,  2G066CA02 ,  2G066CB01
引用特許：
出願人引用 (2件) 審査官引用 (4件)
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