特許

J-GLOBAL ID：200903081103322605

光電子的に距離を測定する方法および同方法に基づいた装置

発明者： ゴゴッラ トルステン
出願人/特許権者： ヒルティ アクチエンゲゼルシャフト
代理人 (1件)： 杉村 興作 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-031761
公開番号（公開出願番号）：特開2001-255369
出願日： 2001年02月08日
公開日（公表日）： 2001年09月21日
要約：

【要約】 (修正有)【課題】 光電子的な距離測定方法とそれに基づく測定装置でより正確な結果を得ること。【解決手段】 メインエミッター11の変調波の一部は測定対象60へ、反射光はメイン光受信機5へ達し、他の出力は直接参照光受信機4へ達し、参照エミッター2の変調波の一部は、直接メイン光受信機5へ、他は直接参照光受信機4へ案内される。メインエミッターと参照エミッター1、2の光強度は、異なる変調周波数f1、f2で同時に変調され、メインエミッター1の強度変調周波数f1の信号と、参照エミッター2の強度変調周波数f2の信号を含んでいる。信号ミクスチャーの2つの信号の位相は、同時に測定され、かつ2つの位相の分離は、変換された中間周波数領域内の異なる周波数によって、ないしは異なる強度変調周波数によって行われ、温度、経時変化および受信出力に関係する位相エラーが除去される。

請求項（抜粋）：

光電子的に距離を測定する方法であって、その場合に-メインエミッター(1)から出力される、強度変調されたメイン光ビームは、一方では、その距離(D0)を観察場所から測定しようとする、離れた対象へ向けられて、そこで反射された光(36)は受信光学系(37)を介して光メイン受信機(5)へ達し、他方では、メイン光ビームの分岐された部分(33)が同時に第2の既知の参照距離(D1)を介して光参照受信機(4)へ案内され;-参照光エミッター(2)から出力される、同様に強度変調された参照光ビームは、一方で、第2の既知の参照距離(D2)を介して光参照受信機(4)へ達し、他方では、参照光ビームの一部(35)は第3の参照距離(D3)を介してメイン受信機(5)へ達し、かつその場合に-メイン受信機および参照受信機から供給された信号は、エラー補償された測定信号を得るために比較を行う信号評価へ供給される、方法において、-メインエミッターと参照エミッター(1、2)の光強度は、異なる周波数(f1、f2)で同時に強度変調され、その場合に、-メイン受信機および参照受信機から供給される、それぞれメインエミッターの強度変調周波数を有する信号成分も参照受信機の強度変調周波数を有する信号成分も含む信号ミクスチャーが、それぞれ中間周波数領域に変換され、前記中間周波数領域は2つの周波数成分を有しており、その場合に一方の周波数成分は参照エミッターの信号によって、他方の周波数成分はメインエミッターの信号によって形成され、かつ-比較を行う信号評価のために、2つの同時に発生する中間周波数信号内に含まれる位相情報の分離が、中間周波数領域内の異なる周波数とメイン光ビームおよび参照光ビームの強度変調のための異なる変調周波数に基づいて行われる、ことを特徴とする光電子的に距離を測定する方法。

IPC (3件)：

G01S 17/36 ,  G01S 7/48 ,  G01C 3/06

FI (3件)：

G01S 17/36 ,  G01S 7/48 A ,  G01C 3/06 Z

引用特許：

審査官引用 (3件)

• レーザ測距装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平7-162029   出願人：三菱重工業株式会社
• 高精度距離測定法
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平4-102199   出願人：工業技術院長
• レーザ測距装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平4-340596   出願人：三菱重工業株式会社