特許
J-GLOBAL ID:200903081787515334
濁度測定装置
発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件):
青山 葆 (外1名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2000-236916
公開番号(公開出願番号):特開2002-048714
出願日: 2000年08月04日
公開日(公表日): 2002年02月15日
要約:
【要約】【課題】 光検出器の測定範囲を有効に利用して測定精度を向上することができる濁度測定装置を提供する。【解決手段】 光源20からの光束80を、第1の方向に進行する第1の光束80aと、第1の方向とは異なる第2の方向に進行する第2の光束80bとに分離する光束分離手段50と、第1の光束80aの少なくとも一部82が光検出器36に導かれる第1の光路と、第2の光束80bがセル28内の被測定液に照射され、それによる被測定液からの散乱光の一部84が光検出器36に導かれる第2の光路と、第1および第2の光路のいずれか一方を選択的に遮断する光束選択手段32とを備える。
請求項(抜粋):
一つの光源(20)からの光束(80)をセル(28)内の被測定液に照射し、一つの光検出器(36)で受光して上記セル(28)からの光の強度を検出し、これに基づいて上記被測定液の濁度を測定する濁度測定装置において、上記一つの光源(20)からの光束(80)を、第1の方向に進行する第1の光束(80a)と、上記第1の方向とは異なる第2の方向に進行する第2の光束(80b)とに分離する光束分離手段(50,52,54)と、上記第1の光束(80a)の少なくとも一部(82)が上記光検出器(36)に導かれる第1の光路と、上記第2の光束(80b)が上記セル(28)内の上記被測定液に照射され、それによる上記被測定液からの散乱光の一部(84)が上記光検出器(36)に導かれる第2の光路と、上記第1および第2の光路のいずれか一方を選択的に遮断する光束選択手段(32)とを備えたことを特徴とする、濁度測定装置。
IPC (4件):
G01N 21/49
, G01J 3/51
, G01N 21/27
, G01N 15/06
FI (4件):
G01N 21/49 A
, G01J 3/51
, G01N 21/27 B
, G01N 15/06 C
Fターム (20件):
2G020AA08
, 2G020DA13
, 2G020DA24
, 2G020DA62
, 2G059AA05
, 2G059BB06
, 2G059CC20
, 2G059DD13
, 2G059EE02
, 2G059EE13
, 2G059FF06
, 2G059FF09
, 2G059JJ02
, 2G059JJ06
, 2G059JJ11
, 2G059JJ12
, 2G059JJ13
, 2G059JJ22
, 2G059JJ23
, 2G059KK01
引用特許:
審査官引用 (7件)
-
特開昭49-090597
-
吸光光度計およびこの吸光光度計の自己診断方法
公報種別:公開公報
出願番号:特願平5-222621
出願人:東亜電波工業株式会社, 富士電機株式会社
-
特開平2-201140
-
特開昭57-119240
-
濁度測定装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願平5-070154
出願人:横河電機株式会社
-
特開平1-277740
-
流体濃度制御装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願平6-168712
出願人:大日本スクリーン製造株式会社
全件表示
前のページに戻る