特許
J-GLOBAL ID：200903081841793426

流量測定方法及び流量測定装置

発明者：
西島 真也

西島 真也 について

, 
岡本 康司

岡本 康司 について


出願人/特許権者：
川鉄アドバンテック株式会社

川鉄アドバンテック株式会社 について


代理人 (5件)： 青山 葆 ,  河宮 治 ,  古川 泰通 ,  前田 厚司 ,  前堀 義之
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2002-231827
公開番号（公開出願番号）：特開2004-069615
出願日： 2002年08月08日
公開日（公表日）： 2004年03月04日
要約：
【課題】高精度の校正係数を使用して開水路の流量を高精度で測定する。【解決手段】流速測定装置は、測定された流速と、流下断面積と、測定された流速を流下断面での平均流速に換算する校正係数に基づいて開水路6の流量を測定する。流速測定装置は、開流路6の平均流速を測定する流速測定部7A,7Bと、開水路の水位を測定する水位測定部8と、校正係数を有限要素法によるシミュレーションで求めた流量分布解析データに基づいて求めるシミュレーション演算部2と、測定された平均流速及び水位とシミュレーション演算部2が求めた校正係数とに基づいて全流下断面の流量を算出する変換部3とを備える。【選択図】図1
請求項（抜粋）：
測定された流速と、流下断面積と、前記測定された流速を流下断面での平均流速に換算する校正係数に基づいて開流路の流量を求める流量測定方法において、 前記校正係数を有限要素法によるシミュレーションで求めた流速分布解析データに基づいて求めることを特徴とする、流量測定方法。
IPC (2件)：
G01F1/00 ,  G01F1/66
FI (3件)：
G01F1/00 H ,  G01F1/00 F ,  G01F1/66 B
Fターム (4件)：
2F030CC05 ,  2F030CE04 ,  2F035AA03 ,  2F035DA14
引用特許：
審査官引用 (4件)
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引用文献：
審査官引用 (1件)

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