特許
J-GLOBAL ID：200903081925050160

系構成制御装置

発明者：
秋山 雅紀

秋山 雅紀 について


出願人/特許権者：
富士通株式会社

富士通株式会社 について


代理人 (1件)： 古谷 史旺 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平10-353445
公開番号（公開出願番号）：特開2000-181742
出願日： 1998年12月11日
公開日（公表日）： 2000年06月30日
要約：
【要約】【課題】 本発明は、動的な冗長構成に適応した故障診断とその故障診断の結果に適応した再構成とを行う系構成制御装置に関し、基本的な構成が変更されることなく、安価に信頼性が高められることを目的とする。【解決手段】 共通の機能を有する複数Nの装置11-1〜11-Nの故障診断を予め設定された頻度で行う診断手段12と、診断手段12によって行われた故障診断の結果に基づいて、複数Nの装置11-1〜11-Nの再構成を行う制御手段13とを備えた系構成制御装置において、診断手段12は、複数Nの装置11-1〜11-Nの全てが正常に作動している状態を識別し、その状態では、これらの装置11-1〜11-Nの内、制御手段13によって行われる再構成の下で現用に供されている装置について、優先して故障診断を行うことによって構成される。
請求項（抜粋）：
共通の機能を有する複数Nの装置の故障診断を予め設定された頻度で行う診断手段と、前記診断手段によって行われた故障診断の結果に基づいて、前記複数Nの装置の再構成を行う制御手段とを備えた系構成制御装置において、前記診断手段は、前記複数Nの装置の全てが正常に作動している状態を識別し、その状態では、これらの装置の内、前記制御手段によって行われる再構成の下で現用に供されている装置について、優先して故障診断を行うことを特徴とする系構成制御装置。
IPC (4件)：
G06F 11/22 310 ,  G06F 11/20 310 ,  G06F 15/177 674 ,  G06F 15/177 678
FI (4件)：
G06F 11/22 310 W ,  G06F 11/20 310 F ,  G06F 15/177 674 B ,  G06F 15/177 678 H
Fターム (11件)：
5B034BB02 ,  5B034BB11 ,  5B034CC06 ,  5B034DD03 ,  5B045AA06 ,  5B045JJ02 ,  5B045JJ46 ,  5B048AA04 ,  5B048CC14 ,  5B048EE05 ,  5B048FF05
引用特許：
審査官引用 (3件)
  • 最適診断開始時期決定方法
    公報種別：公開公報   出願番号：特願平8-116577   出願人：富士通株式会社
  • 特開昭64-026247
  • データ処理装置
    公報種別：公開公報   出願番号：特願平8-233739   出願人：富士通株式会社

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