特許
J-GLOBAL ID:200903081931363099

偏光フィルムの検査法および検査装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 鈴木 崇生 (外3名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2002-159669
公開番号(公開出願番号):特開2003-344302
出願日: 2002年05月31日
公開日(公表日): 2003年12月03日
要約:
【要約】【課題】連続的に移動する積層構造の偏光フィルムの欠陥、とりわけ気泡を、フィルムの移動に伴う幅方向の波打ち現象、搬送中の振動(バタツキ)などの影響なく高精度にて検出する検査法、並びに検査装置を提供する。【解決手段】連続的に移動する偏光フィルムの表面側、裏面側にそれぞれ配置した光源部と検出部およびフイルムの裏面側を当接支持する搬送ロールとを備えた検査部を2組有する検査装置を使用するものであり、光源部、検出部の受光部のいずれかに偏光フィルムの吸収軸とクロスニコルをなす透過軸を有する偏光部材が設けられており、検査部において光源部の光源にて搬送ロールで当接支持された偏光フィルムを照射してその反射光を検出部にて検出する。
請求項(抜粋):
連続的に移動する偏光フィルム内にある欠陥を反射光に基づき検出する検査法であって、該フィルムの表面側に配置した第1光源部と第1検出部および該フイルムの裏面側を当接支持する第1搬送ロールとを備えた第1検査部、並びに該フィルムの裏面側に配置した第2光源部と第2検出部および該フイルムの表面側を当接支持する第2搬送ロールとを備えた第2検査部を有する検査装置を使用するものであり、前記第1光源部及び第1検出部の受光部のいずれか、並びに前記第2光源部及び第2検出部の受光部のいずれかに検査対象である偏光フィルムの吸収軸とクロスニコルをなす透過軸を有する偏光部材が設けられており、前記第1検査部において前記第1光源部の光源にて前記第1搬送ロールで当接支持された偏光フィルムを照射してその反射光を前記第1検出部にて検出し、前記第2検査部において前記第2光源部の光源にて前記第2搬送ロールで当接支持された偏光フィルムを照射してその反射光を前記第2検出部にて検出することを特徴とする偏光フィルムの検査法。
IPC (4件):
G01N 21/892 ,  G01B 11/30 ,  G02B 5/30 ,  G02F 1/1335 510
FI (4件):
G01N 21/892 A ,  G01B 11/30 H ,  G02B 5/30 ,  G02F 1/1335 510
Fターム (44件):
2F065AA49 ,  2F065AA61 ,  2F065BB13 ,  2F065BB15 ,  2F065BB21 ,  2F065CC02 ,  2F065FF44 ,  2F065GG03 ,  2F065GG16 ,  2F065HH12 ,  2F065JJ02 ,  2F065JJ03 ,  2F065JJ05 ,  2F065JJ08 ,  2F065JJ25 ,  2F065JJ26 ,  2F065LL28 ,  2F065MM03 ,  2F065UU03 ,  2G051AA41 ,  2G051AB01 ,  2G051AB02 ,  2G051AB06 ,  2G051AB07 ,  2G051BA01 ,  2G051BA20 ,  2G051CA03 ,  2G051CA04 ,  2G051CA07 ,  2G051CB01 ,  2G051DA15 ,  2H049BA02 ,  2H049BA26 ,  2H049BA27 ,  2H049BB33 ,  2H049BB43 ,  2H049BB62 ,  2H049BC01 ,  2H049BC22 ,  2H091FA08X ,  2H091FA08Z ,  2H091FB02 ,  2H091FC30 ,  2H091LA12
引用特許:
審査官引用 (3件)

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