特許
J-GLOBAL ID：200903069256424253

直線偏光板の検査方法及び直線偏光板の検査装置

発明者：
小林 信次

小林 信次 について

, 
鈴木 孝志

鈴木 孝志 について


出願人/特許権者：
住友化学工業株式会社

住友化学工業株式会社 について


代理人 (1件)： 鈴木 崇生 (外4名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-231480
公開番号（公開出願番号）：特開2001-056270
出願日： 1999年08月18日
公開日（公表日）： 2001年02月27日
要約：
【要約】【課題】直線偏光板の表面に付着した異物や傷等の欠陥を正確に検査することができるようにする。【解決手段】直線偏光板1の表面を照明し、その表面を該直線偏光板とクロスニコルになるように配置した検光子16を通して観察する。
請求項（抜粋）：
直線偏光板の表面を照明し、その表面を該直線偏光板とクロスニコルになるように配置した検光子を通して観察することを特徴とする直線偏光板の検査方法。
IPC (6件)：
G01M 11/00 ,  G01N 21/892 ,  G02B 5/30 ,  G02F 1/13 101 ,  G02F 1/1335 510 ,  G09F 9/00 352
FI (6件)：
G01M 11/00 T ,  G01N 21/892 A ,  G02B 5/30 ,  G02F 1/13 101 ,  G02F 1/1335 510 ,  G09F 9/00 352
Fターム (34件)：
2G051AA41 ,  2G051AB01 ,  2G051AB02 ,  2G051AB07 ,  2G051CA03 ,  2G051CA04 ,  2G051CB01 ,  2G051CC07 ,  2G051DA05 ,  2G051DA15 ,  2G086EE09 ,  2G086EE10 ,  2H049BA02 ,  2H049BB03 ,  2H049BB05 ,  2H049BB65 ,  2H049BC12 ,  2H049BC21 ,  2H088FA11 ,  2H088FA17 ,  2H088FA30 ,  2H088HA28 ,  2H088MA20 ,  2H091FA07Z ,  2H091FA41X ,  2H091FA50Z ,  2H091FC29 ,  2H091FC30 ,  2H091LA30 ,  2H091MA10 ,  5G435AA17 ,  5G435FF05 ,  5G435KK07 ,  5G435KK10
引用特許：
審査官引用 (5件)
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