特許
J-GLOBAL ID:200903081981289345

半導体レーザ

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 滝本 智之 (外1名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平8-183002
公開番号(公開出願番号):特開平10-027947
出願日: 1996年07月12日
公開日(公表日): 1998年01月27日
要約:
【要約】【課題】 動作電圧が低く単一モードで発振する半導体レーザを実現する。【解決手段】 SiC基板102上にn型AlNバッファ層103、n型AlGaNクラッド層104、InGaN活性層105、p型AlGaNクラッド層106があり、ストライプ状の開口部の両側にはInGaN界面層105、n型AlGaN電流阻止層108があり、ストライプ状開口部の中及び電流阻止層の上にはp型AlGaNクラッド層109、p型GaNコンタクト層110がある。ストライプ状開口部内において、p型AlGaNクラッド層106は同じくp型AlGaNクラッド層109と接しており、この領域を通して活性層に電流が注入される。電流阻止層108とp型クラッド層106の間にはInGaN界面層107がある。界面層はAlを含んでいないため、エッチング後表面を大気に曝しても酸化は少なくすることが出来、2回目のMOCVD成長時にInGaN層をリアクター内で蒸発させることによって、良好な再結晶成長界面を得、動作電圧を低減することができる。
請求項(抜粋):
InGaN活性層と、該活性層に対して基板と反対側に形成したAlGaNクラッド層と、前記クラッド層を介してストライプ溝を持つ電流阻止層とを備え、該電流阻止層の前記クラッド層と接する界面にInGaN層があり、前記ストライプ溝の中はAlGaN半導体層があり、該AlGaN層と前記クラッド層の界面にはInGaN層がないことを特徴とする半導体レーザ。
IPC (3件):
H01S 3/18 ,  G11B 7/125 ,  H01L 33/00
FI (3件):
H01S 3/18 ,  G11B 7/125 A ,  H01L 33/00 C
引用特許:
審査官引用 (6件)
  • 半導体レーザ
    公報種別:公開公報   出願番号:特願平6-235011   出願人:ローム株式会社
  • 半導体レーザ
    公報種別:公開公報   出願番号:特願平6-233178   出願人:ローム株式会社
  • 半導体レーザ装置
    公報種別:公開公報   出願番号:特願平5-235102   出願人:シャープ株式会社
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