特許
J-GLOBAL ID：200903082143302549

画素の位置誤差測定装置

発明者：
和田 真一郎

和田 真一郎 について

, 
野口 浩一

野口 浩一 について


出願人/特許権者：
株式会社リコー

株式会社リコー について


代理人 (1件)： 武 顕次郎 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平7-256481
公開番号（公開出願番号）：特開平9-098255
出願日： 1995年10月03日
公開日（公表日）： 1997年04月08日
要約：
【要約】【課題】 原稿読み取り装置による副走査方向の走査位置または走査速度の変動等に起因する読み取り画素の副走査方向の位置誤差を高精度で測定する。【解決手段】 第1キャリッジの副走査方向の走査位置または走査速度を検出するために白地上に45°の角度の多数の黒の斜線パターン10が副走査方向に等ピッチで形成されている。斜線判別部23は光電変換装置7が読み取った画像データに対してウィンドウを設定してウィンドウ内に斜線パターンが存在するか否かを判別し、位置誤差測定部24は斜線パターンが存在すると判別された場合にウィンドウを斜線の角度の方向に順次シフトし、各ウィンドウ内における斜線の位置変化に基づいて副走査方向の画素の位置誤差を測定する。
請求項（抜粋）：
原稿を一定の時間間隔で線順次に主走査方向及び副走査方向に走査して読み取る走査手段と、地肌上に一定幅且つ主、副走査方向に対して斜めであって副走査方向に等ピッチで配置された複数の斜線のパターンを前記走査手段が読み取った場合の画像データに対してウィンドウを設定し、ウィンドウ内に斜線パターンが存在するか否かを判別する斜線パターン判別手段と、前記斜線パターン判別手段により斜線パターンが存在すると判別された場合にウィンドウを前記斜線の角度の方向に順次シフトし、各ウィンドウ内における斜線の位置変化に基づいて読み取り画素の副走査方向の位置誤差を測定する位置誤差測定手段と、を備えた画素の位置誤差測定装置。
引用特許：
審査官引用 (5件)
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