特許
J-GLOBAL ID：200903082628453529
乱数発生装置及びそれを備えた統計解析装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
鳥居 洋
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平9-271618
公開番号（公開出願番号）：特開平11-110191
出願日： 1997年10月03日
公開日（公表日）： 1999年04月23日
要約：
【要約】【課題】 実測されたパラメータの分布に即した回路シミュレーション用パラメータを決定する乱数を発生する乱数発生装置を提供することを目的とする。【解決手段】 乱数発生装置10は、実測された複数のパラメータを格納するパラメータ記憶部11と、前記パラメータを選択するための一様乱数Runiを発生する一様乱数発生部12と、前記一様乱数Runiに基づき前記パラメータ記憶部11に格納されたパラメータから1つのパラメータを選択するパラメータ選択部13と、前記選択されたパラメータに基づき標準偏差設定部14で設定された標準偏差に従うガウス分布乱数を発生させるガウス分布乱数発生部15と、を備える。
請求項（抜粋）：
実測された複数のパラメータを格納するパラメータ記憶手段と、前記パラメータを選択するための第1の乱数を発生するパラメータ選択用乱数発生手段と、前記第1の乱数に基づき前記パラメータ記憶手段に格納された複数のパラメータから1つのパラメータを選択するパラメータ選択手段と、前記選択されたパラメータに基づいて第2の乱数を発生させるパラメータ決定用乱数発生手段と、を備えることを特徴とする乱数発生装置。
IPC (2件)：
FI (3件)：
G06F 7/58 A
, G06F 15/60 662 G
, G06F 15/60 662 D
