特許
J-GLOBAL ID:200903082637707231

粒子の粒度分布測定装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 佐野 静夫
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平6-277316
公開番号(公開出願番号):特開平8-136436
出願日: 1994年11月11日
公開日(公表日): 1996年05月31日
要約:
【要約】【目的】【構成】上方から気流と共に粒子が供給される測定セル4中に音波振動を与える。セル4中にレーザー光11を投射し粒子の軌跡が音波振動から遅延する位相遅延量情報が含まれた光信号をホトマルチプライヤー20から得る。その出力を電気信号に変換し、その電気信号に基いて粒子の粒度を検出する。検出出力を用いて粒子の粒度分布を作成する。測定セル4へ粒子を供給する前に除電装置40によって粒子に除電を施す。
請求項(抜粋):
粒子を供給して所定方向へ走行させ、且つその走行粒子に音波振動を与えて粒子の前記音波振動に対する位相遅延量を検出し、その検出出力に基いて粒度分布を測定する粒子の粒度分布測定装置において、粒子供給の際に粒子通路に粒子の除電を行なう除電手段を設けたことを特徴とする粒子の粒度分布測定装置。
IPC (2件):
G01N 15/02 ,  G01N 15/14
引用特許:
審査官引用 (7件)
  • 気体清浄化手段を有する搬送装置
    公報種別:公開公報   出願番号:特願平5-056323   出願人:荏原インフィルコ株式会社, 株式会社荏原総合研究所
  • イオン発生装置
    公報種別:公開公報   出願番号:特願平4-120507   出願人:浜松ホトニクス株式会社
  • 特開平4-155244
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