3次元計測装置

発明者： ,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：関正治
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2002-139975
公開番号（公開出願番号）：特開2003-329418
出願日： 2002年05月15日
公開日（公表日）： 2003年11月19日
要約：

【要約】【課題】センサヘッドを動かさないで1個あるいは複数個の測定点について3次元位置測定が可能であり、さらに対象位置に対応可能な特徴点がない場合にも測定できるような、より簡単な構造を持ち情報処理が簡単な3次元計測装置を提供する。【解決手段】スリット状レーザ光7を照射しない状態で計測対象を撮像した第1カメラ1の画像に基づいて第1カメラのレンズ係5の光学中心近傍を通る揺動軸6の周りを表面が揺動するスキャニングミラー2で反射するスリットレーザ7が目的位置に照射する反射面角度を算定し、この算定タイミングにおいて第1カメラ1と第2カメラ4が撮像した画像信号に基づいて対象物の3次元形状を算定する。

請求項（抜粋）：

計測対象の2次元画像を得る第1カメラと、該第1カメラのレンズの光学中心近傍を通る揺動軸の周りを表面が揺動するスキャニングミラーと、該スキャニングミラー表面の揺動軸位置にスリットレーザを投射するレーザスリット投光器と、光軸が前記スキャニングミラーで反射するスリットレーザ面に対して角度を持って前記計測対象に向くようになっている第2カメラと、前記第1カメラと第2カメラから出力される画像信号を用いて画像処理する画像処理装置を備え、前記第1カメラの画像に基づいて目的位置に前記スリットレーザが照射するときを判定し、この目的位置に前記スリットレーザが照射するときにおいて前記第2カメラが撮像した画像信号を出力し、該第2カメラの出力画像信号と前記スリットレーザの位置に基づいて対象物の3次元形状を算定することを特徴とする3次元計測装置。

Fターム (13件)：

2F065AA53 , 2F065BB05 , 2F065CC11 , 2F065DD06 , 2F065FF04 , 2F065GG04 , 2F065HH05 , 2F065JJ03 , 2F065JJ05 , 2F065JJ26 , 2F065LL08 , 2F065LL13 , 2F065LL62

引用特許：

審査官引用 (2件)

3次元形状計測装置
公報種別：公開公報出願番号：特願平11-297443 出願人：富士ゼロックス株式会社
3次元入力装置
公報種別：公開公報出願番号：特願平11-108813 出願人：ミノルタ株式会社

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