特許
J-GLOBAL ID:200903083183555810
電子部品検査装置
発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件):
須山 佐一
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2002-071073
公開番号(公開出願番号):特開2003-270295
出願日: 2002年03月14日
公開日(公表日): 2003年09月25日
要約:
【要約】【課題】 装置の設置面積を効率的に利用可能な電子部品検査装置を提供する。【解決手段】 電子部品検査装置が、電子部品を収納する容器を軌道に沿って、かつ上下に配置する容器配置領域、検査部を配置する検査領域、容器を収納する容器収納部を配置する容器収納部配置領域、電子部品を搬送する部品搬送部と、容器配置領域と容器収納部との間で容器を搬送する容器搬送部とを有し、電子部品が容器配置領域と検査領域との間を部品搬送部により搬送されることで電子部品の検査が行われる。容器配置領域に容器が上下に配置され、必要に応じて容器を移動することで、上下に配置された容器の双方が利用できることから、装置の設置面積が効率的に活用される。
請求項(抜粋):
軌道と、電子部品を収納する複数の容器を前記軌道に沿って、かつ上下に配置する容器配置領域と、前記軌道に近接して配置され、電子部品を検査する検査部を配置する検査領域と、前記容器を重ねて収納する容器収納部を配置する容器収納部配置領域と、前記軌道上に設置され、かつ電子部品を吸着する吸着ノズルを装着する吸着ヘッドと、該吸着ノズルを上下に昇降するノズル昇降部と、該吸着ノズルを前記軌道に沿って移動するノズル移動部とを有し、前記容器配置領域と前記検査領域との間で電子部品を搬送する部品搬送部と、前記容器配置領域と前記容器収納部との間で前記容器を搬送する容器搬送部と、を具備することを特徴とする電子部品検査装置。
FI (2件):
G01R 31/26 Z
, G01R 31/26 H
Fターム (10件):
2G003AC03
, 2G003AD01
, 2G003AD03
, 2G003AG01
, 2G003AG10
, 2G003AG11
, 2G003AG12
, 2G003AG16
, 2G003AH01
, 2G003AH04
引用特許: