特許
J-GLOBAL ID：200903083376815267

試料分析装置および試料分析方法

発明者：
芝田 正治

芝田 正治 について

, 
吉田 敬祥

吉田 敬祥 について


出願人/特許権者：
シスメックス株式会社

シスメックス株式会社 について


代理人 (1件)： 西野 卓嗣
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2007-089642
公開番号（公開出願番号）：特開2008-249424
出願日： 2007年03月29日
公開日（公表日）： 2008年10月16日
要約：
【課題】 被測定物質の濃度が低い試料を精度よく分析することができ、かつ、装置の大型化を回避することが可能な試料分析装置および試料分析方法を提供する。【解決手段】 試料分析装置が、サンプル容器から吸引された試料を貯留する貯留部と、前記貯留部に貯留された試料から複数の測定用試料を調製する試料調製部と、前記試料調製部によって調製された複数の測定用試料を順次測定し、それぞれの測定用試料について測定データを取得する測定部と、前記測定部によって取得された複数の測定データに基づいて、試料の所定項目の分析結果を取得する分析結果取得部と、を備える。【選択図】 図1
請求項（抜粋）：
サンプル容器から吸引された試料を貯留する貯留部と、 前記貯留部に貯留された試料から複数の測定用試料を調製する試料調製部と、
IPC (3件)：
G01N 35/00 ,  G01N 35/10 ,  G01N 15/14
FI (3件)：
G01N35/00 E ,  G01N35/06 A ,  G01N15/14 P
Fターム (15件)：
2G058BA01 ,  2G058EA03 ,  2G058EA14 ,  2G058EB01 ,  2G058EC01 ,  2G058EC09 ,  2G058EC18 ,  2G058FA01 ,  2G058FB01 ,  2G058FB12 ,  2G058GA06 ,  2G058GD07 ,  2G058GE02 ,  2G058GE04 ,  2G058GE09
引用特許：
出願人引用 (6件)
全件表示
審査官引用 (5件)
全件表示

前のページに戻る

TOP

BOTTOM