特許
J-GLOBAL ID：200903083420393847

外観検査装置の集中管理システム

発明者：
太田 眞之

太田 眞之 について

, 
秋山 吉宏

秋山 吉宏 について


出願人/特許権者：
株式会社サキコーポレーション

株式会社サキコーポレーション について


代理人 (1件)： 丹羽 宏之 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平8-310841
公開番号（公開出願番号）：特開平10-153556
出願日： 1996年11月21日
公開日（公表日）： 1998年06月09日
要約：
【要約】【課題】 プリント基板の撮影画像を取り込んで実装部品やはんだ付けの良否を判定する外観検査装置において、不良が発生しても基板を別の場所へ持ち運ばなくても良く、リアルタイムで処理できるようにする。【解決手段】 各外観検査装置1で撮影した基板のビデオ信号を集中管理装置2のビデオ切替器4に送り、その中から必要なビデオ信号を制御装置5からの切替信号により選択し、ビデオモニタ6の画面にその基板の映像を表示させる。そして、不良と判定された箇所の検査をモニタ画面の映像を見て行い、その結果を外観検査装置1に送る。
請求項（抜粋）：
部品を実装した基板の撮影画像を取り込んで該部品やはんだ付けの良否を判定する外観検査装置の集中管理システムであって、各外観検査装置よりの画像信号を制御装置からの切替信号により切り替える切替器と、切り替えられた画像信号により画像を表示するモニタを備え、不良と判定された箇所の検査を前記モニタの表示画像により行うことを特徴とする外観検査装置の集中管理システム。
IPC (3件)：
G01N 21/88 ,  G06T 7/00 ,  H05K 3/34 512
FI (3件)：
G01N 21/88 F ,  H05K 3/34 512 A ,  G06F 15/62 405 A
引用特許：
審査官引用 (6件)
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