特許
J-GLOBAL ID：200903083492304199

物質、特に組織を検査してその型を特徴付けるための方法および装置

発明者：
ハシムショニー, ダン

ハシムショニー, ダン について

, 
コヘン, ギル

コヘン, ギル について


出願人/特許権者：
デューン メディカル デヴァイシズ リミテッド

デューン メディカル デヴァイシズ リミテッド について


代理人 (2件)： 風早 信昭 ,  浅野 典子
公報種別：公表公報
出願番号（国際出願番号）：特願2006-520980
公開番号（公開出願番号）：特表2007-507245
出願日： 2004年07月15日
公開日（公表日）： 2007年03月29日
要約：
物質体積を検査してその型、特に組織を癌性または非癌性として特徴付けるために検査するのに有用な型を特徴付ける方法及び装置であって、検査対象の物質体積に偏向磁界を局所的に印加すること、前記検査対象の物質体積の電気インピーダンス(EI)に対応する電気応答信号と、前記検査対象の物質体積の磁気共鳴(MR)特性に対応するMR応答信号とを引き起こすように、前記検査対象の物質体積にRFパルスを局所的に印加すること、前記EIおよびMR応答信号を局所的に検出すること、および前記検査対象の物質体積中の物質の型を特徴付けるために、前記検出された応答信号を利用すること、を含む。【選択図】 図1
請求項（抜粋）：
物質体積を検査してその型を特徴付ける方法であって、 検査対象の物質体積に偏向磁界を局所的に印加すること、 前記検査対象の物質体積の電気インピーダンス(EI)に対応する電気応答信号と、前記検査対象の物質体積の磁気共鳴(MR)特性に対応するMR応答信号とを引き起こすように、前記検査対象の物質体積にRFパルスを局所的に印加すること、 前記EIおよびMR応答信号を局所的に検出すること、および 前記検査対象の物質体積中の物質の型を特徴付けるために、前記検出された応答信号を利用すること、 を含む方法。
IPC (5件)：
A61B 5/055 ,  G01R 33/28 ,  G01R 33/34 ,  G01R 33/60 ,  A61B 19/00
FI (8件)：
A61B5/05 382 ,  A61B5/05 383 ,  A61B5/05 355 ,  G01N24/02 B ,  G01N24/02 Y ,  G01N24/04 520A ,  G01N24/10 ,  A61B19/00 502
Fターム (14件)：
4C096AA01 ,  4C096AA11 ,  4C096AA18 ,  4C096AB41 ,  4C096AD10 ,  4C096AD19 ,  4C096CC01 ,  4C096CC08 ,  4C096CC13 ,  4C096DC20 ,  4C096DC33 ,  4C096EA03 ,  4C096FC14 ,  4C096FC20
引用特許：
出願人引用 (4件)
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審査官引用 (4件)
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