特許
J-GLOBAL ID:200903083605029246

粒度分布測定装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 西岡 義明
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平10-020665
公開番号(公開出願番号):特開平11-218482
出願日: 1998年02月02日
公開日(公表日): 1999年08月10日
要約:
【要約】【課題】 粒度分布測定において、測定セルの装着方向を規制し、測定条件を統一する。【解決手段】 測定セル13内の粒子群に平行光束を照射することによって得られる、粒子群による回折/散乱光の強度分布を測定することにより、粒子群の粒度分布を測定する装置であり、装置本体に固定されたホルダ31に設けた突起部32が測定セル13に設けた切り欠き28に嵌まることで、測定セル13がホルダ31に正確に装着されたことが確認でき、測定条件を統一することができる。
請求項(抜粋):
測定セル内の粒子群に平行光束を照射することによって得られる、粒子群による回折/散乱光の強度分布を測定することにより、粒子群の粒度分布を測定する装置において、前記測定セルを着脱可能に光学的に位置決めするホルダと、前記ホルダに対し前記測定セルを装着する際、所定方向以外の装着を規制する規制手段とを備えたことを特徴とする粒度分布測定装置。
引用特許:
審査官引用 (4件)
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