特許
J-GLOBAL ID：200903084116024106
配線密度予測方法および配線密度予測プログラムを格納した記憶媒体並びにセル配置装置
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
真田 有
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平9-290790
公開番号（公開出願番号）：特開平11-126825
出願日： 1997年10月23日
公開日（公表日）： 1999年05月11日
要約：
【要約】【課題】 配線プログラムを起動することなくセルの配置結果だけに基づいて配線密度を予測し、配線密度による配線性評価を短時間に且つ容易に行なえるようにして、回路設計の効率化をはかる。【解決手段】 所定領域を複数の評価単位格子に区画し、配線により接続されるべき2つのセルを選択し(S51)、これら2つのセルの接続対象ピンを対角線上の頂点とする矩形領域を求め(S52〜S57)、接続対象ピン間の配線が配線グリッドのある1つの格子点を通過する確率を算出し(S58)、各評価単位格子において前記矩形領域が占める割合を算出し(S59)、評価単位格子ごとに、当該配線によるその評価単位格子での配線密度増加分の指標を算出し(S62)、評価単位格子ごとに、セル相互間の全配線についてそれぞれ算出された指標の総和をその評価単位格子での配線密度として算出する(S63)。
請求項（抜粋）：
回路設計に際し、所定領域内に配置された多数のセルの相互間における配線密度を予測する方法であって、前記所定領域を複数の評価単位格子に区画し、配線により接続されるべき2つのセルを選択し、該2つのセルの接続対象ピンを対角線上の頂点とする矩形領域を求め、前記矩形領域内において該2つのセルの接続対象ピン間の配線が配線グリッドの各格子点を通過する確率は一様であるとみなして、該2つのセルの接続対象ピン間の配線が前記矩形領域内における配線グリッドのある1つの格子点を通過する確率を配線通過確率として算出し、各評価単位格子において前記矩形領域が占める割合を矩形領域占有率として算出し、評価単位格子ごとに、前記配線通過確率と前記矩形領域占有率との乗算値を、当該配線によるその評価単位格子での配線密度増加分の指標となる第1の配線密度影響値として算出し、評価単位格子ごとに、該多数のセルの相互間における全ての配線についてそれぞれ算出された前記第1の配線密度影響値の総和を、その評価単位格子での配線密度として算出することを特徴とする、配線密度予測方法。
IPC (2件)：
FI (3件)：
H01L 21/82 W
, G06F 15/60 658 A
, G06F 15/60 666 Z
