特許
J-GLOBAL ID:200903084282082173
複数の蛍光物質を含む試料の分析方法及び装置
発明者:
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出願人/特許権者:
代理人 (1件):
小林 良平
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2002-295739
公開番号(公開出願番号):特開2004-132760
出願日: 2002年10月09日
公開日(公表日): 2004年04月30日
要約:
【課題】超短光パルスから得られる白色連続スペクトル光パルスを用いて複数の蛍光物質を分析するに際して、より高精度に且つノイズの少ない分析を行うことのできる方法及び装置を提供する。【解決手段】目的とする蛍光物質に対応する励起光λ1、λ2、λ3をそれぞれ周波数f1、f2、f3で強度変調する。それらを合成した合成光パルスを試料21に照射し、目的とする蛍光物質を励起する。それにより生成された蛍光を目的蛍光物質の波長η1、η2、η3により分光し、各分光蛍光の出力を、蛍光検出システム22において、前記周波数f1、f2、f3で同期整流する。例えば、波長η1の蛍光は波長λ1の励起光に対応しているため、周波数f1で強度が変化している。従って、整流器c11で周波数f1により同期整流された場合の出力s11には、目的の蛍光物質からの蛍光のみが含まれる。【選択図】 図4
請求項(抜粋):
a)超短光パルスより生成される白色連続スペクトル光パルスを分光器により分光し、
b)分光された各波長中の複数の目的波長光のみを選択し、
c)選択された複数の目的波長光をそれぞれ異なる周波数で強度変調し、
d)強度変調された複数の目的波長光を逆分光器で合成することにより合成光パルスを生成して試料に照射し、
e)試料から放出された蛍光出力を、目的波長光に対応する蛍光出力ごとに分光・検出し、
f)検出された各蛍光出力を、上記目的波長光を強度変調した上記周波数で同期整流する
ことを特徴とする複数の蛍光物質を含む試料の分析方法。
IPC (1件):
FI (2件):
G01N21/64 Z
, G01N21/64 F
Fターム (16件):
2G043BA16
, 2G043DA02
, 2G043EA01
, 2G043FA01
, 2G043FA02
, 2G043FA06
, 2G043GA01
, 2G043GB01
, 2G043HA01
, 2G043HA02
, 2G043HA15
, 2G043JA01
, 2G043JA04
, 2G043KA08
, 2G043KA09
, 2G043MA16
引用特許:
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