特許

J-GLOBAL ID：200903084588107463

検査装置

発明者： 二村 伊久雄 ,  山崎 耕平
出願人/特許権者： シーケーディ株式会社
代理人 (1件)： 川口 光男
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2005-101044
公開番号（公開出願番号）：特開2006-284215
出願日： 2005年03月31日
公開日（公表日）： 2006年10月19日
要約：

【課題】検査装置による検査結果の確認を容易にして当該確認作業に要する時間を低減させると共に、検査装置の構成を簡素化する。【解決手段】1台のCCDカメラ6を用い、検査のための三次元計測用の撮像と、テクスチャデータを得るための二次元撮像用の撮像を行う。三次元計測用の撮像を用いた三次元演算手段28による計測値に基づき、クリームハンダの三次元形状を示す三次元モデルデータを、三次元データ格納手段30に格納する。一方、二次元実画像のデータ(テクスチャデータ)を、二次元データ格納手段31に格納する。このとき両データは同一座標系で表現されており、当該座標系を維持したまま、制御手段7からの制御信号によりマッピング手段32が二次元実画像のデータを三次元モデルデータにマッピングし、制御手段7は、表示手段27の表示画面に濃淡情報を有する三次元画像を表示する。【選択図】 図2

請求項（抜粋）：

計測対象物に対し、三次元計測用の光を照射する三次元計測用照射手段と、 前記計測対象物に対し、二次元撮像用の光を照射する二次元撮像用照射手段と、 前記三次元計測用照射手段からの照射光に基づき三次元計測のための撮像を行うと共に、前記二次元撮像用照射手段からの照射光に基づき前記計測対象物の上からの撮像を行う撮像手段と、 前記撮像手段による三次元計測のための撮像に基づき、前記計測対象物の三次元計測を行う三次元演算手段と、 前記三次元演算手段による計測値に基づき、前記計測対象物を検査する検査手段と、 前記三次元演算手段による計測値に基づく前記計測対象物の三次元形状を示す三次元データに対して前記計測対象物の二次元実画像を示す二次元データがマッピングされたマッピングデータに基づき、濃淡情報を有する前記計測対象物の三次元画像を、表示手段の表示画面に表示可能な表示制御手段と を備えていることを特徴とする検査装置。

IPC (5件)：

G01B 11/24 ,  G01N 21/956 ,  G06T 1/00 ,  H05K 3/00 ,  H05K 3/34

FI (6件)：

G01B11/24 K ,  G01N21/956 B ,  G06T1/00 305A ,  G06T1/00 315 ,  H05K3/00 Q ,  H05K3/34 512B

Fターム (75件)：

2F065AA24 ,  2F065AA53 ,  2F065AA58 ,  2F065AA59 ,  2F065AA61 ,  2F065BB02 ,  2F065CC01 ,  2F065CC26 ,  2F065DD02 ,  2F065DD06 ,  2F065EE08 ,  2F065FF01 ,  2F065FF02 ,  2F065FF04 ,  2F065FF09 ,  2F065FF10 ,  2F065FF42 ,  2F065GG17 ,  2F065GG22 ,  2F065GG24 ,  2F065HH01 ,  2F065HH07 ,  2F065HH12 ,  2F065HH13 ,  2F065HH14 ,  2F065JJ03 ,  2F065JJ08 ,  2F065JJ09 ,  2F065JJ26 ,  2F065MM03 ,  2F065NN01 ,  2F065NN20 ,  2F065PP12 ,  2F065QQ24 ,  2F065QQ25 ,  2F065QQ31 ,  2F065QQ36 ,  2F065RR05 ,  2F065RR09 ,  2F065SS02 ,  2F065SS13 ,  2F065TT03 ,  2G051AA65 ,  2G051AB02 ,  2G051AB14 ,  2G051CA04 ,  2G051CB01 ,  5B057AA03 ,  5B057BA02 ,  5B057BA11 ,  5B057CA01 ,  5B057CA08 ,  5B057CA12 ,  5B057CA16 ,  5B057CB01 ,  5B057CB08 ,  5B057CB12 ,  5B057CB13 ,  5B057CB16 ,  5B057CC01 ,  5B057CD14 ,  5B057DA03 ,  5B057DA16 ,  5B057DB03 ,  5B057DB06 ,  5B057DB09 ,  5B057DC09 ,  5B057DC22 ,  5B057DC25 ,  5B057DC36 ,  5E319AC01 ,  5E319BB05 ,  5E319CD26 ,  5E319CD53 ,  5E319GG15

引用特許：

出願人引用 (1件)

• バンプ付基板の検査装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平10-105671   出願人：日本特殊陶業株式会社

審査官引用 (5件)

• 基板検査装置及び方法
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2000-295807   出願人：三菱重工業株式会社
• 三次元画像処理方法、三次元画像処理プログラム、三次元画像処理装置および三次元画像処理システム
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2002-011636   出願人：キヤノン株式会社
• バンプ付基板の検査装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平10-105671   出願人：日本特殊陶業株式会社
• 3次元色形状検出装置及び3次元スキャナー
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2001-374382   出願人：ブラザー工業株式会社
• 特開平4-180385