蛍光X線分析用の粉体試料成形方法

発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (3件)：杉本修司 , 野田雅士 , 堤健郎
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2004-263820
公開番号（公開出願番号）：特開2006-078386
出願日： 2004年09月10日
公開日（公表日）： 2006年03月23日
要約：

【課題】数十mg程度の微量の粉体試料について蛍光X線分析で軽元素の測定ができ、かつ分析後に試料を容易に回収できる前処理方法を提供する。【解決手段】微量の粉体試料1Aを蛍光X線分析に供するために1枚の高分子フィルム2とともにその高分子フィルム2の厚み方向に加圧成形して前記高分子フィルム2に付着させる。【選択図】図2

請求項（抜粋）：

微量の粉体試料を蛍光X線分析に供するために1枚の高分子フィルムとともにその高分子フィルムの厚み方向に加圧成形して前記高分子フィルムに付着させる粉体試料成形方法。

IPC (2件)：

G01N 1/28 , G01N 23/223

FI (2件)：

G01N1/28 U , G01N23/223

Fターム (16件)：

2G001AA01 , 2G001BA04 , 2G001CA01 , 2G001GA01 , 2G001KA01 , 2G001MA04 , 2G001NA16 , 2G001QA03 , 2G001RA01 , 2G001RA20 , 2G052AD35 , 2G052AD55 , 2G052FD13 , 2G052GA19 , 2G052JA02 , 2G052JA04

引用特許：

出願人引用 (6件)

特開平2-145949
特開平1-274046
特開昭64-001943

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審査官引用 (6件)

特開平2-145949
特開平1-274046
特開昭64-001943

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