特許
J-GLOBAL ID:200903085407775121
設備管理システム
発明者:
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出願人/特許権者:
代理人 (2件):
河宮 治
, 山田 卓二
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2003-189525
公開番号(公開出願番号):特開2005-025451
出願日: 2003年07月01日
公開日(公表日): 2005年01月27日
要約:
【課題】半導体製造工程における設備の故障関連情報を適切に電子化し、入力作業を容易に行い、過去のトラブル検索を容易に行う。【解決手段】半導体装置の製造工程に関して製造装置の異常及び処置のデータを保管する設備管理データベースと、装置修理若しくは保全に使用するパーツのパーツデータを格納するパーツ管理データベースと、装置異常発生時の異常現象及び発生部位を、装置毎に予め格納した異常発生部位データベースとを利用する、設備情報管理システムを構築する、その設備管理システムにおいて、設備管理データベースは、設備情報部と、故障情報部とを備え、更に、設備管理データベースは文書データベースで構築され、異常発生部位データベースはリレーショナル・データベースで構築されていることを特徴とする。【選択図】図2
請求項(抜粋):
半導体装置の製造工程に関して、製造装置に係るデータ、製造装置の異常及び処置のデータを記録する設備管理データベースと、
装置修理若しくは保全に使用するパーツのパーツデータを記録するパーツ管理データベースと、
装置異常発生時の異常現象及び異常部位を、装置毎に予め記録する異常発生部位データベースとを利用する、設備管理システムにおいて、
設備管理データベースは、設備情報部と、故障情報部とを備え、
更に、設備管理データベースは文書データベースで構築され、異常発生部位データベースはリレーショナル・データベースで構築されていることを特徴とする設備管理システム。
IPC (2件):
FI (3件):
G05B19/418 Z
, G06F17/60 106
, G06F17/60 138
Fターム (6件):
3C100AA52
, 3C100AA53
, 3C100AA57
, 3C100AA63
, 3C100BB13
, 3C100EE06
引用特許:
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