特許
J-GLOBAL ID：200903085488254716
不良影響度評価方法および設計支援システム
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
作田 康夫
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2003-339154
公開番号（公開出願番号）：特開2005-107773
出願日： 2003年09月30日
公開日（公表日）： 2005年04月21日
要約：
【課題】製造前の段階(製品設計段階や製造工程の設計段階)で、ある部品や工程における不良の発生が他の部品や工程に及ぼす影響を推定し、不良の重要度を評価して製造工程の設計を支援する。【解決手段】部品故障率をデータベースに格納しておき、製品の設計段階で、製品を構成する各部品の組立工程について組立不良率を算出し、製品の設計情報から部品配置関係を抽出し、組立不良率と部品故障率に基づいて部品不良率を算出し、部品配置関係と部品不良率に基づき各組立工程で係わりのある部品に対し部品不良率を係数を掛け合わせて工程の影響度を示す数値を算出することにより、各部品および各工程の影響度を評価する。【選択図】 図1
請求項（抜粋）：
複数の部品から構成される製品について、該製品の設計段階で、前記製品を構成する各部品の組立工程について不良となる割合である組立不良率を算出し、該不良率と前記製品の設計情報に基づいて各部品および各工程の影響度を評価する方法であって、
予め前記各部品について該部品の故障率をデータベースに格納しておき、
前記製品の設計情報から、前記製品を構成する部品間の部品配置関係を抽出し、
前記組立不良率と部品故障率に基づいて部品の不良率を算出し、
各組立工程について、前記部品配置関係と部品の不良率に基づき、各組立工程を行なう時点で係わりのある部品に対し、部品の不良率を係数を掛け合わせて工程の影響度を示す数値を算出することにより、各部品および各工程の影響度を評価することを特徴とする不良影響度評価方法。
IPC (2件)：
FI (2件)：
G05B19/418
, G06F17/60 106
3C100AA52
, 3C100AA56
, 3C100AA62
, 3C100AA65
, 3C100BB12
