特許
J-GLOBAL ID:200903085800230137

物体の内部構造を測定する方法および装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (2件): 藤田 考晴 ,  上田 邦生
公報種別:公表公報
出願番号(国際出願番号):特願2007-554628
公開番号(公開出願番号):特表2008-530546
出願日: 2006年01月30日
公開日(公表日): 2008年08月07日
要約:
物体の表面からの反射によって生じる信号アーチファクトを低減するためのさまざまな方法および装置を説明する。1つの方法においては、信号アーチファクトを低減するための校正信号を類似経路アルゴリズムを用いて作成する。別の方法においては、信号アーチファクトを低減するための校正信号を等価位置アルゴリズムを用いて作成し、別の方法においては、遮断スクリーンを表面に接触または近接させて配置する。別の方法においては、反射防止層を使用する。これらの方法は、乳房腫瘍造影デバイスにおいて単独で、または一緒に使用しうる。
請求項(抜粋):
物体の内部構造を測定する方法であって、 a)波動エネルギーを前記物体上に送出するために1つまたは複数の送信器を付勢するステップと、 b)前記波動エネルギーの通過に対する前記物体の影響を複数の受信器によって検出し、複数の出力信号を生成するステップと、 c)前記物体内の目標点に対応するデータを生成するために前記複数の出力信号を集束するステップと、 d)前記物体内の1つまたは複数の追加点を選択するステップであって、各追加点は、前記送信器および受信器に対して前記目標点と等価な位置とされるステップと、 e)各前記追加点に対応する追加データを生成するために前記複数の出力信号を集束するステップと、 f)信号アーチファクトを低減するステップと を含み、前記信号アーチファクトの低減は、 i)前記追加データから校正データを生成するステップと、 ii)前記目標点に対応する前記データから前記校正データを減じるステップと によって行われる物体の内部構造を測定する方法。
IPC (5件):
G01N 22/02 ,  G01S 13/89 ,  A61B 10/00 ,  G01N 22/00 ,  A61B 5/05
FI (6件):
G01N22/02 B ,  G01S13/89 ,  A61B10/00 T ,  A61B10/00 B ,  G01N22/00 S ,  A61B5/05 A
Fターム (11件):
4C027CC01 ,  4C027EE01 ,  5J070AB01 ,  5J070AC01 ,  5J070AC02 ,  5J070AD09 ,  5J070AE09 ,  5J070AH02 ,  5J070AH35 ,  5J070AK39 ,  5J070BE02
引用特許:
審査官引用 (8件)
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引用文献:
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