特許

J-GLOBAL ID：200903085952499360

蛍光X線分析装置

発明者： 辻 幸一 ,  細川 好則
出願人/特許権者： 辻 幸一 ,  株式会社エックスレイプレシジョン
代理人 (1件)： 渡辺 三彦
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2004-177046
公開番号（公開出願番号）：特開2006-003109
出願日： 2004年06月15日
公開日（公表日）： 2006年01月05日
要約：

【課題】 蛍光X線の検出感度の向上及び装置の小型化を図ることができる蛍光X線分析装置を提供する。【解決手段】 リング状に形成されかつ軸方向の一端部(端部)2aからリング状の1次X線aをその少なくとも一部が集束するように放射するX線発生器2と、このX線発生器2で包囲された内部空間11に中心軸がX線発生器2の中心軸Dと一致するようにかつX線発生器2の中心軸D上の一端部2a近傍に配置した試料10と対向するように挿入されると共に、1次X線aの照射により試料10から発生する蛍光X線bを検出するX線検出器3と、を備えた。【選択図】 図1

請求項（抜粋）：

リング状に形成されかつ軸方向の端部からリング状の1次X線をその少なくとも一部が集束するように放射するX線発生器と、 このX線発生器で包囲された内部空間に中心軸が前記X線発生器の中心軸と一致するようにかつ前記X線発生器の中心軸上の前記端部近傍に配置した試料と対向するように挿入されると共に、前記1次X線の照射により前記試料から発生する蛍光X線を検出するX線検出器と、 を備えたことを特徴とする蛍光X線分析装置。

IPC (6件)：

G01N 23/223 ,  G21K 1/06 ,  G21K 5/02 ,  H01J 35/00 ,  H01J 35/08 ,  H01J 35/16

FI (6件)：

G01N23/223 ,  G21K1/06 B ,  G21K5/02 X ,  H01J35/00 Z ,  H01J35/08 C ,  H01J35/16

Fターム (17件)：

2G001AA01 ,  2G001AA10 ,  2G001AA20 ,  2G001BA04 ,  2G001CA01 ,  2G001DA02 ,  2G001GA08 ,  2G001GA13 ,  2G001JA03 ,  2G001JA07 ,  2G001KA01 ,  2G001PA07 ,  2G001PA11 ,  2G001PA14 ,  2G001QA01 ,  2G001SA02 ,  2G001SA10

引用特許：

出願人引用 (2件)

• 蛍光X線分析装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平3-215198   出願人：株式会社東芝
• 特許第2674675号公報(第1-3頁,図1等)