特許
J-GLOBAL ID：200903086174791250
非破壊評価装置およびマイクロ波照射装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
永井 冬紀
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2002-322161
公開番号（公開出願番号）：特開2004-156987
出願日： 2002年11月06日
公開日（公表日）： 2004年06月03日
要約：
【課題】測定前の機器セッティングが容易である非破壊評価装置およびマイクロ波照射装置を提供する。【解決手段】非破壊評価装置100が有する誘電体レンズ31,32は、雰囲気との誘電率の差により入射したマイクロ波の進行方向を偏向させて射出する、両凸形状のレンズである。マイクロ波制御装置10で発振(発生)し、ケーブル11を介してホーンアンテナ20から照射(送信)されたマイクロ波は、誘電体レンズ31を透過することでマイクロ波の進行方向が平行となる。この平行となったマイクロ波が誘電体レンズ32を透過することで集束され、所定の焦点距離で焦点を結ぶ。この位置に置かれた被検査体40に照射されて反射したマイクロ波は、上記と逆の進行方向にてホーンアンテナ20へ戻る。そして、ケーブル11を介してマイクロ波制御装置10で受信される。【選択図】 図1
請求項（抜粋）：
マイクロ波を発生して被検査体を照射する照射手段と、
マイクロ波源で発生して照射されるマイクロ波の入射波を透過集束させる少なくとも1枚の集束レンズと、
前記集束レンズにより被検査体で集束されて反射する反射波を受信する受信手段と、
前記マイクロ波の入射波および前記反射波によって被検査体の内部を評価する評価手段とを備えることを特徴とする非破壊評価装置。
IPC (2件)：
FI (2件)：
G01N22/02 A
, G01N22/00 S
