特許
J-GLOBAL ID：200903086262294371

印刷半田検査装置及び方法

発明者：
鈴木 隆

鈴木 隆 について

, 
▲櫛▼渕 恭男

▲櫛▼渕 恭男 について


出願人/特許権者：
アンリツ株式会社

アンリツ株式会社 について


代理人 (1件)： 西村 教光 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-023488
公開番号（公開出願番号）：特開2002-228597
出願日： 2001年01月31日
公開日（公表日）： 2002年08月14日
要約：
【要約】【課題】 半田Hを含む第1領域A1 と半田Hを除く第2領域F2 とに分離し、レジストRの平均高さDavの精度の向上を図る。【解決手段】 基板W表面から距離情報Dと輝度情報Bを読み取る。所定の輝度閾値Bt で、輝度情報Bを1,0の値で2値化する。距離情報Dと、2値化処理手段31から得られた2値化輝度情報B’と、に基づいて、2値化輝度情報B’の1の値と同一箇所の距離情報Dを抽出する。抽出された距離情報Dを平均化する。
請求項（抜粋）：
基板(W)表面に印刷された半田(H)を検査する印刷半田検査装置において、前記基板表面から距離情報(D)と輝度情報(B)を読み取る読取手段(2)と、所定の輝度閾値(Bt )で、前記輝度情報を1,0の値で2値化する2値化処理手段(31)と、前記距離情報と、前記2値化処理手段から得られた2値化輝度情報(B’)と、に基づいて、該2値化輝度情報の前記1の値と同一箇所となる抽出距離情報(D2 )を抽出する抽出手段(33)と、前記抽出距離情報を平均化して平均化距離情報(Dav)を算出する平均化手段(34)と、を具備することを特徴とする印刷半田検査装置。
IPC (3件)：
G01N 21/956 ,  G01B 11/00 ,  H05K 3/34 512
FI (3件)：
G01N 21/956 B ,  G01B 11/00 B ,  H05K 3/34 512 B
Fターム (34件)：
2F065AA06 ,  2F065AA17 ,  2F065AA24 ,  2F065AA58 ,  2F065AA59 ,  2F065CC26 ,  2F065FF44 ,  2F065HH04 ,  2F065JJ16 ,  2F065LL08 ,  2F065LL13 ,  2F065LL15 ,  2F065LL62 ,  2F065MM03 ,  2F065MM16 ,  2F065QQ04 ,  2F065QQ42 ,  2F065QQ43 ,  2F065SS06 ,  2F065SS13 ,  2G051AA65 ,  2G051AB14 ,  2G051BA10 ,  2G051BC06 ,  2G051EA11 ,  2G051EB01 ,  2G051EC02 ,  2G051EC03 ,  2G051ED01 ,  2G051ED04 ,  2G051ED23 ,  5E319BB05 ,  5E319CD29 ,  5E319CD52
引用特許：
出願人引用 (3件) 審査官引用 (3件)

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