特許

J-GLOBAL ID：200903086544113833

プリント基板の信号波形測定装置

発明者： 久住 肇 ,  小橋 広志 ,  松本 康義
出願人/特許権者： 日本電気株式会社
代理人 (1件)： 加藤 朝道
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平7-262432
公開番号（公開出願番号）：特開平9-080083
出願日： 1995年09月14日
公開日（公表日）： 1997年03月28日
要約：

【要約】【課題】金属プローブでは測定できない保護膜が塗布された配線の信号測定を可能とし、反りの大きなプリント基板や高さばらつきの大きな被測定部に対して高速かつ高精度に信号測定を可能とする。【解決手段】一側に透明導電層を他側に反射膜を具備してなる電気光学素子4と、被測定信号による電界を前記電気光学素子に誘導する金属ピン8と、電気光学素子4へ入射させるレーザ光を出力するレーザ光源と、電界により複屈折性に変化が生じた、電気光学効果を有する部材内を通過し、反射膜で反射する行程において、位相変調を受けた被変調レーザ光の位相変化量を光強度の変化量に変換する光学手段と、光強度を電気信号に変換する変換手段と、変換手段の出力電気信号を増幅する増幅手段を備え、本体外部に透明導電層と接続された接地用端子を備える。

請求項（抜粋）：

一側端面に透明導電層を備えると共に他側端面に反射膜を具備してなる電気光学効果を有する部材からなる電気光学素子と、被測定信号による電界を前記電気光学素子に誘導する金属ピンと、前記電気光学素子へ入射させるレーザ光を出力するレーザ光源と、前記電界により複屈折性に変化が生じた、前記電気光学効果を有する部材内を通過し、更に前記反射膜で反射する行程において、位相変調を受けた被変調レーザ光の位相変化量を光強度の変化量に変換する光学手段と、前記光強度を電気信号に変換する変換手段と、前記変換手段の出力電気信号を増幅する増幅手段と、を含むことを特徴とするプリント基板の信号波形測定装置。

IPC (2件)：

G01R 15/24 ,  G01R 31/302

FI (2件)：

G01R 15/07 A ,  G01R 31/28 L

引用特許：

審査官引用 (4件)

• 特開平4-029344
  
• オプチカル・モジュール
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平6-156386   出願人：テクトロニクス・インコーポレイテッド
• 非接触型電圧測定装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平5-224851   出願人：日本電気株式会社
• 特開平4-315965