特許

J-GLOBAL ID：200903086644275814

金属検出機

発明者： 日高 雅之 ,  布施 匡章 ,  野崎 隆次
出願人/特許権者： アンリツ株式会社
代理人 (1件)： 早川 誠志
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-124030
公開番号（公開出願番号）：特開2000-314776
出願日： 1999年04月30日
公開日（公表日）： 2000年11月14日
要約：

【要約】【課題】 被検査体自身による磁界への影響度合いの変動や雑音レベルの変動による誤判定を防止できるようにする。【解決手段】 影響値記憶手段45により、被検査体Wについての判定対象値をその被検査体自身が磁界に与える影響度合いを示す影響値として順次記憶するとともに、雑音レベル記憶手段46により、被検査体Wが磁界中に存在しないときの検出信号を雑音レベル値としてを順次記憶し、影響値記憶手段45に記憶された影響値および雑音レベル記憶手段46に記憶された雑音レベル値を、表示制御手段47によってその経時的な変化が識別できるように表示装置48の画面にグラフ表示する。

請求項（抜粋）：

被検査体の通過経路に磁界を発生し、該磁界中を通過した被検査体による磁界の変化を検出し、該検出信号から金属の有無を判定するための判定対象値を検出し、該検出した判定対象値と基準値とを比較して被検査体中の金属の有無を判定する金属検出機において、被検査体についての判定対象値を、該被検査体自身が磁界に与える影響度合いを示す影響値として順次記憶する影響値記憶手段と、表示装置と、前記影響値記憶手段に記憶された影響値を、その経時的な変化が識別できるように前記表示装置の画面にグラフ表示する表示制御手段とを設けたことを特徴とする金属検出機。

IPC (2件)：

G01V 3/11 ,  G01V 3/10

FI (2件)：

G01V 3/11 C ,  G01V 3/10 F

Fターム (1件)：

2G005CA02

引用特許：

審査官引用 (2件)

• 金属検出装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平5-238313   出願人：日本セメント株式会社
• 金属検出機を備えた値付装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平4-173527   出願人：株式会社寺岡精工