特許
J-GLOBAL ID：200903086772660020

部品認識方法および装置

発明者：
寺地 隆

寺地 隆 について


出願人/特許権者：
ジューキ株式会社

ジューキ株式会社 について


代理人 (1件)： 加藤 卓
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-033595
公開番号（公開出願番号）：特開2000-232299
出願日： 1999年02月12日
公開日（公表日）： 2000年08月22日
要約：
【要約】【課題】 すべての部品を精度良く認識でき、照明条件が緩く、しかも高速な画像処理が可能な部品認識方法およびその装置を提供する。【解決手段】 所定配列の電極パターンを有する部品が撮像され、角33aから小窓を掃引してして種電極32が抽出される(S1)。種電極が検出されると、これを原点にしてH0V0座標が作成され、周辺電極が観測される(S2)。この状態では、すでに抽出された電極群から予測される位置に小窓が設定され、順次電極が抽出される。続いて抽出された電極のパターン並びにその電極の座標が求められ、抽出された電極パターンと所定配列の電極パターンとが重ねて照合され、位置決めが行われる(S3)。両パターンの不一致が最も少なくなったときに、抽出電極の座標値から所定配列の電極パターンの電極の画像座標が決定される。このような構成では、電極の抽出が高速に行われ、しかも正確な電極の座標値を求めることができる。
請求項（抜粋）：
所定配列の電極パターンを有する部品を撮像して電極の位置を認識する部品認識方法において、撮像された部品の画像内に順次所定の大きさの小窓を設定して電極の抽出を行ない、抽出された電極のパターン並びにその電極の座標を求め、前記抽出された電極パターンと前記所定配列の電極パターンとを重ねあわせて照合し、照合結果に基づき前記所定配列の電極パターンの電極の画像座標を決定することを特徴とする部品認識方法。
IPC (4件)：
H05K 13/04 ,  G01B 11/00 ,  G06T 7/00 ,  H05K 13/08
FI (4件)：
H05K 13/04 M ,  G01B 11/00 H ,  H05K 13/08 Q ,  G06F 15/62 400
Fターム (36件)：
2F065AA01 ,  2F065CC27 ,  2F065DD03 ,  2F065DD04 ,  2F065FF01 ,  2F065FF04 ,  2F065HH02 ,  2F065JJ03 ,  2F065JJ26 ,  2F065MM22 ,  2F065QQ05 ,  2F065QQ31 ,  2F065UU05 ,  2F065UU06 ,  5B057AA03 ,  5B057BA21 ,  5B057CC03 ,  5B057DA07 ,  5B057DB02 ,  5B057DC06 ,  5B057DC33 ,  5E313AA02 ,  5E313AA04 ,  5E313AA11 ,  5E313CC04 ,  5E313DD03 ,  5E313DD13 ,  5E313EE02 ,  5E313EE03 ,  5E313FF21 ,  5E313FF24 ,  5E313FF26 ,  5E313FF28 ,  5E313FF29 ,  5E313FF31 ,  5E313FF34
引用特許：
出願人引用 (3件) 審査官引用 (3件)

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