特許
J-GLOBAL ID：200903087023487598
放射性表面汚染検査装置および放射線表面汚染検査方法
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (2件)：
菊池 治
, 大胡 典夫
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2007-134982
公開番号（公開出願番号）：特開2008-292166
出願日： 2007年05月22日
公開日（公表日）： 2008年12月04日
要約：
【課題】被検査対象の放射性汚染を、小面積の検出器により局所的な汚染を測定した場合と同程度の検出限界性能を持ちつつ、大面積を一度に検査できるようにする。【解決手段】放射性表面汚染検査装置に、平面状の検出領域に入射した放射線を検出する放射線検出器21と、検出領域をメッシュ状に分割した区画のうちのいずれの区画に放射線が入射したかを特定する入射位置演算器22と、放射線の量を入射した区画ごとに積算した区画放射線積算量を記憶するカウント保持器23と、連続する区画を組み合わせて設けられた設定領域のそれぞれに対してこの設定領域に属する区画に対応する区画放射線積算量を足し合わせて設定領域放射線積算量を求める設定領域積算器24とを備える。【選択図】図1
請求項（抜粋）：
平面状の検出領域に入射した放射線を検出する放射線検出器と、
前記検出領域をメッシュ状に分割した区画のうちのいずれの区画に前記放射線が入射したかを特定する入射位置演算器と、
前記放射線の量を入射した前記区画ごとに積算した区画放射線積算量を記憶するカウント保持器と、
連続する前記区画を組み合わせて設けられた設定領域のそれぞれに対してこの設定領域に属する前記区画に対応する前記区画放射線積算量を足し合わせて設定領域放射線積算量を求める設定領域積算器と、
を有することを特徴とする放射性表面汚染検査装置。
IPC (2件)：
FI (3件)：
G01T1/169 A
, G01T1/20 G
, G01T1/20 F
2G088EE17
, 2G088FF04
, 2G088FF05
, 2G088FF06
, 2G088GG11
, 2G088GG18
, 2G088GG20
, 2G088JJ03
, 2G088JJ06
, 2G088KK06
, 2G088KK11
, 2G088KK27
, 2G088KK32
, 2G088KK35
, 2G088LL11
, 2G088MM09
出願人引用 (2件)
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放射線検出装置
公報種別：公開公報
出願番号：特願2000-036456
出願人：株式会社東芝
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放射線検出装置
公報種別：公開公報
出願番号：特願2000-060494
出願人：原子燃料工業株式会社
審査官引用 (2件)
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特開平4-301785
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放射線検出装置
公報種別：公開公報
出願番号：特願平8-062258
出願人：アロカ株式会社
引用文献：
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