特許
J-GLOBAL ID:200903087343709912

障害物計測方法、障害物計測装置及び障害物計測システム

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (2件): 田村 敬二郎 ,  小林 研一
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2007-143735
公開番号(公開出願番号):特開2008-298533
出願日: 2007年05月30日
公開日(公表日): 2008年12月11日
要約:
【課題】適切なサンプリング間隔を設定することで必要な領域のみ高精度な距離情報を取得可能な障害物計測方法、障害物計測装置及び障害物計測システムを提供する。【解決手段】この障害物計測方法は、障害物までの距離をステレオ画像による視差算出で計測する際に、低解像度画像により求めた距離情報に基づいて、高解像度画像における視差算出のための相関演算の対象となる画素のサンプリング間隔を近距離において大きく遠距離において小さく設定する。【選択図】図2
請求項(抜粋):
障害物までの距離をステレオ画像による視差算出で計測する障害物計測方法であって、 低解像度画像により求めた距離情報に基づいて、高解像度画像における前記視差算出のための相関演算の対象となる画素のサンプリング間隔を近距離において大きく遠距離において小さく設定することを特徴とする障害物計測方法。
IPC (2件):
G01C 3/06 ,  G06T 1/00
FI (4件):
G01C3/06 110V ,  G01C3/06 140 ,  G06T1/00 315 ,  G06T1/00 330A
Fターム (22件):
2F112AC06 ,  2F112CA05 ,  2F112FA03 ,  2F112FA35 ,  2F112FA38 ,  2F112GA01 ,  5B057BA02 ,  5B057CA08 ,  5B057CA13 ,  5B057CA16 ,  5B057CB08 ,  5B057CB13 ,  5B057CB16 ,  5B057DA07 ,  5B057DA08 ,  5B057DA15 ,  5B057DB03 ,  5B057DB09 ,  5B057DC32 ,  5H180CC04 ,  5H180LL01 ,  5H180LL06
引用特許:
出願人引用 (2件)

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